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Affected depth approach to determine the fatigue strength of materials containing surface defects - 18/10/18

Doi : 10.1016/j.crme.2018.08.012 
Anouar Nasr a, b, , Wannes Hassine a, Chokri Bouraoui c
a LGM, ENIM, Université de Monastir, avenue Ibn-Eljazzar, Monastir 5019, Tunisia 
b IPEIM, Université de Monastir, avenue Ibn-Eljazzar, Monastir 5019, Tunisia 
c LMS, ENISO, Université de Sousse, BP264, Erriadh, Sousse 4023, Tunisia 

Corresponding author at: LGM, ENIM, Université de Monastir, avenue Ibn-Eljazzar, Monastir 5019, Tunisia.LGMENIMUniversité de Monastiravenue Ibn-EljazzarMonastir5019Tunisia
Sous presse. Épreuves corrigées par l'auteur. Disponible en ligne depuis le Thursday 18 October 2018
Cet article a été publié dans un numéro de la revue, cliquez ici pour y accéder

Abstract

This paper explains a novel methodology to determine the High Cycle Fatigue (HCF) reliability of materials with defects. A defect was represented by a semi-spherical void situated at a specimen surface subjected to periodic loading. Then, the Finite Element (FE) method was carried out to find out the stress distribution near the defects for diverse sizes and diverse loadings. The Crossland stress change is studied and interpolated by a mathematical function depending on fatigue limits, defect radius, and profundity from the defect tip. The HCF strength of defect material is computed by the “stress strength” approach via the Monte Carlo sampling. This approach leads to determine Kitagawa–Takahashi diagrams, for a definite reliability, of materials with defects. The calculated HCF reliabilities agree well with fatigue tests. Obtaining Kitagawa–Takahashi diagrams with reliability level permits the engineer to be engaged in an endurance problem to compute the defective fatigue lives in safe and efficient process. As a final point, we discuss the sensitivity effects of defect size, defect free fatigue limits, affected depth, and load amplitude to envisage the fatigue reliability of materials with defects.

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Keywords : Reliability, Defect, Affected depth, Fatigue limit, HCF criteria


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