Accelerators and x-rays in cultural heritage investigations - 30/10/09
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Abstract |
In the following article a review is given on the use of accelerators in studies connected to our cultural heritage. It focuses on making use of the production and detection of x-rays as a general tool. At “small accelerators”, the proton induced x-ray emission (PIXE), especially when combined with Rutherford backscattering spectroscopy (RBS), has been developed to a very versatile and powerful technique for near-surface investigations. It is well complemented by larger facilities, synchrotron radiation sources as well as medium energy ion accelerators for high energy PIXE. With the development of small compact electron accelerators, a new generation of mono-energetic high-energy high-intensity x-ray sources will add a very comfortable complement in cultural heritage studies. To cite this article: H.-E. Mahnke et al., C. R. Physique 10 (2009).
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Résumé |
Cet article présente un aperçu des accélérateurs utilisés dans des études reliées à notre patrimoine culturel, avec un intérêt particulier pour la production et la détection des rayons X comme technique générale. Le développement des « petits accélérateurs » pour l’utilisation des rayons X produits par des protons (PIXE) combinée avec la spectrométrie en rétrodiffusion de Rutherford (RBS) a conduit à une technique adaptable et puissante pour l’analyse des couches superficielles. Des techniques complémentaires existent dans des installations plus grandes comme des sources de radiation synchrotron ou encore des accélérateurs d’énergie moyenne pour le PIXE de haute énergie. Le développement d’accélérateurs petits et compacts comme source intense de rayons X de haute énergie ajoutera un complément confortable pour les études de notre patrimoine. Pour citer cet article : H.-E. Mahnke et al., C. R. Physique 10 (2009).
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Keywords : X-ray fluorescence (XRF), PIXE, Non-destructive analytics, Cultural heritage, Inverse Compton source
Mots-clés : Fluorescence de rayons X (XRF), PIXE, Analyse non-destructive, Patrimoine culturel, Source par effet Compton inverse
Plan
Vol 10 - N° 7
P. 660-675 - septembre 2009 Retour au numéroBienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
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