Réseaux denses de défauts linéaires interfaciaux et dislocations de Somigliana - 01/01/04
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Résumé |
Une interface cristalline est souvent tapissée par un réseau dense de défauts linéaires dont la géométrie est (pseudo-) bipériodique. Le champ élastique de ce réseau est calculé en imaginant lʼinterface comme un pavage de dislocations de Somigliana adjacentes. Une analyse dʼune portion de ligne zigzag erratique dʼun sous-joint de torsion (001)Si, observée en microscopie électronique à transmission à deux ondes, est donnée en exemple. Pour citer cet article : A. Boussaid et al., C. R. Physique 6 (2005).
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Abstract |
. A crystalline interface is often covered by a dense network of linear defects with a (pseudo) biperiodic geometry. The elastic field of this network is calculated by thinking the interface as paved by adjacent Somigliana dislocations. The analysis of a portion of an erratic zigzag line of a (001)Si low angle twist boundary, observed in two-beam transmission electron microscopy, is given as an example. To cite this article: A. Boussaid et al., C. R. Physique 6 (2005).
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Mots-clés : Dislocation, Champ élastique, Interface, Somigliana
Keywords : Dislocation, Elastic field, Interface, Somigliana
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Vol 6 - N° 1
P. 145-150 - janvier-février 2005 Retour au numéroBienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
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