S'abonner

Réseaux denses de défauts linéaires interfaciaux et dislocations de Somigliana - 01/01/04

Doi : 10.1016/j.crhy.2004.11.012 
Ahlem Boussaid a, Mustapha Fnaiech a, Roland Bonnet b,
a Laboratoire dʼanalyses structurales des materiaux, département de physique, faculté des sciences de Monastir, route de Kairouan, 5000 Monastir, Tunisie 
b Institut national Polytechnique de Grenoble, laboratoire de thermodynamique et physico-chimie métallurgiques (unité mixte de recherche associée au CNRS 5614), École nationale supérieure dʼélectrochimie et dʼélectrochimie de Grenoble, domaine universitaire, BP 75, 38402 Saint Martin dʼHères, France 

Auteur correspondant.

Bienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
L’accès au texte intégral de cet article nécessite un abonnement.

pages 6
Iconographies 0
Vidéos 0
Autres 0

Résumé

Une interface cristalline est souvent tapissée par un réseau dense de défauts linéaires dont la géométrie est (pseudo-) bipériodique. Le champ élastique de ce réseau est calculé en imaginant lʼinterface comme un pavage de dislocations de Somigliana adjacentes. Une analyse dʼune portion de ligne zigzag erratique dʼun sous-joint de torsion (001)Si, observée en microscopie électronique à transmission à deux ondes, est donnée en exemple. Pour citer cet article : A. Boussaid et al., C. R. Physique 6 (2005).

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Abstract

. A crystalline interface is often covered by a dense network of linear defects with a (pseudo) biperiodic geometry. The elastic field of this network is calculated by thinking the interface as paved by adjacent Somigliana dislocations. The analysis of a portion of an erratic zigzag line of a (001)Si low angle twist boundary, observed in two-beam transmission electron microscopy, is given as an example. To cite this article: A. Boussaid et al., C. R. Physique 6 (2005).

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Mots-clés : Dislocation, Champ élastique, Interface, Somigliana

Keywords : Dislocation, Elastic field, Interface, Somigliana


Plan

Plan indisponible

© 2004  Académie des sciences. Publié par Elsevier Masson SAS. Tous droits réservés.
Ajouter à ma bibliothèque Retirer de ma bibliothèque Imprimer
Export

    Export citations

  • Fichier

  • Contenu

Vol 6 - N° 1

P. 145-150 - janvier-février 2005 Retour au numéro
Article précédent Article précédent
  • Influence du gel sur les propriétés des polychloroprènes
  • Françoise Cochet, Solweig Vitry, Jean-Yves Cavaille, Alain Guyot
| Article suivant Article suivant
  • Un Réseau de Petit Monde local à sites pondérés pour les feux de forêts
  • Bernard Porterie, Nouredine Zekri, Jean-Pierre Clerc, Jean-Claude Loraud

Bienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
L’accès au texte intégral de cet article nécessite un abonnement.

Bienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
L’achat d’article à l’unité est indisponible à l’heure actuelle.

Déjà abonné à cette revue ?

Mon compte


Plateformes Elsevier Masson

Déclaration CNIL

EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.

En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.


Tout le contenu de ce site: Copyright © 2024 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.