Elemental analysis down to the single atom with electron beams - 14/03/14
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Abstract |
Recently the possibilities of chemical analysis by means of electron energy-loss spectroscopy (EELS) and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX) have been pushed to the single atom limit. Here we show examples for successful single-atom spectroscopy in low-dimensional materials using scanning transmission electron microscopy (STEM) together with EELS and EDX.
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Résumé |
Au cours des années récentes, les techniques d'analyse spectroscopique de perte d'énergie (EELS) et d'émission X (EDX) ont été poussées jusqu'à l'identification d'atomes individuels. Nous présentons ici une sélection de résultats récents acquis en microscopie électronique à balayage en transmission (STEM) équipée pour les spectroscopies EELS et EDX, qui montrent des succès enregistrés sur des atomes uniques au sein de matériaux de basse dimensionnalité.
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Keywords : STEM, EELS, EDX, Single atom spectroscopy, Low-dimension materials
Mots-clés : STEM, Spectroscopie de perte d'énergie, Analyse dispersive en énergie, Spectroscopie d'atome unique, Matériaux à basse dimension
Plan
Vol 15 - N° 2-3
P. 151-157 - février 2014 Retour au numéro
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