Mass selected cluster deposition in strongly or weakly interacting media - 22/03/08
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Note presented by Guy Laval
Abstract |
Mass selected cluster deposition is discussed with respect to three questions: what is the integrity of the clusters after deposition; are they uniform in terms of size and isomerisation; and finally what is the influence of the support on the clusters? The answer to these questions will depend on the strength of cluster media interaction and we have chosen two extreme cases the inert rare gases on one hand and metal surfaces on the other. Three examples are given: Raman studies as well as low-temperature STM give structural information on the deposited clusters, while other optical spectroscopies (absorption and fluorescence) yield information on the electronic structure of the clusters. To cite this article: W. Harbich, C. Félix, C. R. Physique 3 (2002) 289-300.
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Résumé |
La déposition d'agrégats sélectionnés en taille est discutée en rapport avec trois questions : quelle est l'inégrité des agrégats après la déposition, quelle est leur uniformité en terme de taille et d'isomérisation et finalement quelle est l'influence du support ? La réponse à ces questions dépendra de la force de l'interaction entre l'agrégat et le milieu dans lequel il se trouve. Nous avons choisi deux cas extrêmes : les gaz rares inertes d'un côté et des surfaces métalliques de l'autre. Trois exemples sont discutés : Des études des spectroscopie Raman ainsi que des mesures de microscopie tunnel donnent des informations de structure géométrique sur les agrégats déposés, alors que d'autres spectroscopies optiques (absoption et fluorescence) livrent des informations sur leur structure électronique. Pour citer cet article : W. Harbich, C. Félix, C. R. Physique 3 (2002) 289-300.
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Keywords : cluster deposition, softlanding, geometrical structure, electronic structure
Mots-clé : deposition d'agrégats, structure geométrique, structure electronique
Plan
Vol 3 - N° 3
P. 289-300 - avril 2002 Retour au numéroBienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
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