Vol 15 - N° 2-3 - février 2014
P. 101-296© Elsevier Masson SAS
Seeing and measuring with electrons: Transmission Electron Microscopy today and tomorrow
Page :IFC
Page :iii
Page :101-109
Christian Colliex
Résumé PlanPage :110-118
Peter Hawkes
Résumé PlanPage :119-125
Christoph T. Koch, Wouter Van den Broek
Résumé PlanPage :126-139
Giulio Pozzi, Marco Beleggia, Takeshi Kasama, Rafal E. Dunin-Borkowski
Résumé PlanPage :140-150
Sara Bals, Bart Goris, Thomas Altantzis, Hamed Heidari, Sandra Van Aert, Gustaaf Van Tendeloo
Résumé PlanPage :151-157
Kazu Suenaga
Résumé PlanPage :158-175
Mathieu Kociak, Odile Stéphan, Alexandre Gloter, Luiz F. Zagonel, Luiz H.G. Tizei, Marcel Tencé, Katia March, Jean Denis Blazit, Zackaria Mahfoud, Arthur Losquin, Sophie Meuret, Christian Colliex
Résumé PlanPage :176-189
J. Spencer Baskin, Ahmed H. Zewail
Résumé PlanPage :190-199
Jo Verbeeck, Giulio Guzzinati, Laura Clark, Roeland Juchtmans, Ruben Van Boxem, He Tian, Armand Béché, Axel Lubk, Gustaaf Van Tendeloo
Résumé PlanPage :200-213
Edward D. Boyes, Pratibha L. Gai
Résumé PlanPage :214-223
Tobias Schuh, Niels de Jonge
Résumé PlanPage :224-240
Marc Legros
Résumé PlanPage :241-257
Clemens Mangler, Jannik C. Meyer
Résumé PlanPage :258-268
Bingsen Zhang, Dang Sheng Su
Résumé PlanPage :269-275
Simon P. Ringer, Miles H. Apperley
Résumé PlanPage :281-284
Etienne Snoeck, Gustaaf Van Tendeloo
Résumé PlanPage :IBC
Page :285-296
Christopher Herzog, Maxim Olshanii, Yvan Castin
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