La caméra à semi-conducteur D-Spect : aspects techniques et applications cliniques - 01/03/10
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Résumé |
La médecine nucléaire a connu ces dix dernières années de profondes évolutions avec l’arrivée des tomographes par émission de positons et des tomographes monophotoniques couplés au scanner. L’utilisation récente dans notre service de la caméra à semi-conducteurs D-Spect (Spectrum Dynamics, Israël) devrait constituer un nouveau tournant dans notre pratique clinique. Cette nouvelle technologie permet en effet une amélioration de la résolution des images et grâce à une augmentation de la sensibilité de détection, des acquisitions plus rapides et une diminution des activités injectées. Cette caméra actuellement dédiée à la cardiologie nucléaire présente, par ailleurs, un système original de collimation et de reconstruction des images. Nous relatons dans cet article notre expérience clinique de l’utilisation de la D-Spect, dans le cadre d’une étude préliminaire dont l’objectif est la comparaison des résultats avec ceux obtenus sur une caméra conventionnelle.
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Abstract |
Clinical practice in nuclear medicine has largely changed in the last decade, particularly with the arrival of PET/CT and SPECT/CT. New semiconductor cameras could represent the next evolution in our nuclear medicine practice. Due to the resolution and sensitivity improvement, this technology authorizes fast speed acquisitions, high contrast and resolution images performed with low activity injection. The dedicated cardiology D-Spect camera (Spectrum Dynamics, Israel) is based on semiconductor technology and provides an original system for collimation and images reconstruction. We describe here our clinical experience in using the D-Spect with a preliminary study comparing D-DPECT and conventional gamma camera.
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Mots clés : Caméra à semi-conducteurs, Cardiologie nucléaire, D-Spect
Keywords : Semiconductor camera, Nuclear cardiology, D-Spect
Plan
Vol 34 - N° 3
P. 171-177 - mars 2010 Retour au numéroBienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
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