Suscribirse

Nanometric artificial structuring of semiconductor surfaces for crystalline growth - 01/01/04

Doi : 10.1016/j.crhy.2004.11.006 
J. Eymery a, , G. Biasiol b, 1, E. Kapon b, T. Ogino c
a Équipe mixte CEA-CNRS-UJF « Nanophysique et Semiconducteurs », CEA/DRFMC/SP2M, 17, rue des Martyrs, 38054 Grenoble cedex 9, France 
b Laboratory of Physics of Nanostructures, Institute of Quantum Electronics and Photonics, Swiss Federal Institute of Technology, Lausanne, CH-1015 Lausanne, Switzerland 
c Department of Electrical and Computer Engineering, Yokohama National University, Tokiwadai 79-5, Hodogayaku, 240-8601 Yokohama, Japan 

Corresponding author.

Bienvenido a EM-consulte, la referencia de los profesionales de la salud.
El acceso al texto completo de este artículo requiere una suscripción.

páginas 12
Iconografías 0
Vídeos 0
Otros 0

Abstract

The coupling of standard self-organization methods with surface artificial nanostructuring has recently emerged as a promising technique in semiconductor materials to control simultaneously the size distribution, the density and the position of epitaxial nanostructures. Some physical aspects of the morphology and elastic strain engineering are reviewed in this article. The emphasis is on the effects of capillarity, growth rate anisotropy, strain relaxation and entropy of mixing for alloys. The interplay among these driving forces is first illustrated by III-V compound semiconductor growth on lithographically patterned surfaces, then by germanium growth on implanted substrates and nanopatterned templates obtained by chemical etching of buried strain dislocation networks. To cite this article: J. Eymery et al., C. R. Physique 6 (2005).

El texto completo de este artículo está disponible en PDF.

Résumé

Le couplage de méthodes classiques dʼauto-organisation avec des nanostructurations artificielles de surfaces sʼest récemment avéré être une excellente technique dans les matériaux semi-conducteurs pour contrôler simultanément la taille, la densité et la position de nanostructures épitaxiées. Certains aspects physiques concernant lʼingénierie de la morphologie et de la contrainte élastique sont passés en revue dans cet article. Lʼaccent est mis sur les effets de capillarité, dʼanisotropie de la vitesse de croissance, de relaxation de contrainte et dʼentropie de mélange pour les alliages. Lʼinteraction entre ces différentes forces motrices est illustrée en premier par la croissance de composés de semi-conducteurs III-V sur des surfaces obtenues par lithographie, puis par la croissance de germanium sur des substrats implantés et sur des surfaces nanostructurées obtenues par attaque chimique de réseaux de dislocations enterrées. Pour citer cet article : J. Eymery et al., C. R. Physique 6 (2005).

El texto completo de este artículo está disponible en PDF.

Keywords : Surface nanopatterning, Self-assembling, Epitaxial growth, Strain and curvature engineering

Mots-clés : Nanostructuration de surface, Auto-organisation, Croissance épitaxiale, Ingénierie de contrainte et de courbure


Esquema

Plan inalienable

© 2004  Académie des sciences. Publicado por Elsevier Masson SAS. Todos los derechos reservados.
Añadir a mi biblioteca Eliminar de mi biblioteca Imprimir
Exportación

    Exportación citas

  • Fichero

  • Contenido

Vol 6 - N° 1

P. 105-116 - janvier-février 2005 Regresar al número
Artículo precedente Artículo precedente
  • Three-dimensional stacking of self-assembled quantum dots in multilayer structures
  • Gunther Springholz
| Artículo siguiente Artículo siguiente
  • Organometallic approach to nanoparticles synthesis and self-organization
  • Bruno Chaudret

Bienvenido a EM-consulte, la referencia de los profesionales de la salud.
El acceso al texto completo de este artículo requiere una suscripción.

Bienvenido a EM-consulte, la referencia de los profesionales de la salud.
La compra de artículos no está disponible en este momento.

¿Ya suscrito a @@106933@@ revista ?

@@150455@@ Voir plus

Mi cuenta


Declaración CNIL

EM-CONSULTE.COM se declara a la CNIL, la declaración N º 1286925.

En virtud de la Ley N º 78-17 del 6 de enero de 1978, relativa a las computadoras, archivos y libertades, usted tiene el derecho de oposición (art.26 de la ley), el acceso (art.34 a 38 Ley), y correcta (artículo 36 de la ley) los datos que le conciernen. Por lo tanto, usted puede pedir que se corrija, complementado, clarificado, actualizado o suprimido información sobre usted que son inexactos, incompletos, engañosos, obsoletos o cuya recogida o de conservación o uso está prohibido.
La información personal sobre los visitantes de nuestro sitio, incluyendo su identidad, son confidenciales.
El jefe del sitio en el honor se compromete a respetar la confidencialidad de los requisitos legales aplicables en Francia y no de revelar dicha información a terceros.


Todo el contenido en este sitio: Copyright © 2026 Elsevier, sus licenciantes y colaboradores. Se reservan todos los derechos, incluidos los de minería de texto y datos, entrenamiento de IA y tecnologías similares. Para todo el contenido de acceso abierto, se aplican los términos de licencia de Creative Commons.