Vol 177 - N° 6 - juin 1999
P. 443-546© Elsevier Masson SAS
Página :443-444
Página :445-449
William E Burak, Michael J Walker, Lisa D Yee, Julian A Kim, Sanjoy Saha, George Hinkle, John O Olsen, Rodney Pozderac, William B Farrar
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Página :450-453
Brian J O’Hea, May Nah Ho, Jeanne A Petrek
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Página :454-459
Peter V Giannoudis, R.Malcolm Smith, Alistair C Windsor, Mark C Bellamy, Pierre J Guillou
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Página :460-462
Eric Bergeron, Bernard Richer, Rami Gharib, Alain Giard
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Página :463-466
P.Terry Phang, Jon M Hain, Javier J Perez-Ramirez, Robert D Madoff, Brett T Gemlo
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Página :467-471
Jose P Velez, Raphael T Villavicencio, Wolfgang Schraut, Kenneth Lee
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Página :472-474
Russell W Strong
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Página :475-479
Futoshi Miyazono, Sonshin Takao, Shoji Natsugoe, Keiichirou Uchikura, Fumio Kijima, Kuniaki Aridome, Hiroyuki Shinchi, Takashi Aikou
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Página :480-484
Carol R Schermer, Brian D Matteson, Gerald B Demarest, Roxie M Albrecht, Victor H Davis
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Página :485-488
Giovanni Sturniolo, Claudio D’Alia, Agata Tonante, Ettore Gagliano, Filippo Taranto, Maria Grazia Lo Schiavo
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Página :489-491
Arthur L Humphries, Gene L Colborn, James J Wynn
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Página :492-496
Kiaran J O’Malley, Stuart M Flechner, Anil Kapoor, Ronald A Rhodes, Charles S Modlin, David A Goldfarb, Andrew C Novick
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Página :497-502
Susumu Kobayashi, Yoshio Koide, Masato Endo, Kaichi Isono, Takenori Ochiai
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Página :503-506
Toshimasa Tsujinaka, Hitoshi Shiozaki, Makoto Yamamoto, Masatoshi Inoue, Masahiko Yano, Yuichiro Doki, Morito Monden
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Página :507
Página :508-514
Jon S Thompson, Eamonn M.M Quigley
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Página :515-517
Yutaka J Kawamura, Toshio Sawada, Eiji Sunami, Yukio Saito, Toshiaki Watanabe, Tadahiko Masaki, Tetsuichiro Muto
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Página :518-524
Ismail Jatoi
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