Vol 61 - N° 2 - février 2003
P. A1-A38© Elsevier Masson SAS
Page :261-266
Sameer N Stas, Aristotelis G Anastasiadis, Harry Fisch, Mitchell C Benson, Ridwan Shabsigh
Page :267-273
Mark Emberton, Gerald L Andriole, Jean de la Rosette, Bob Djavan, Klaus Hoefner, Remigio Vela Navarrete, Jorgen Nordling, Claus Roehrborn, Claude Schulman, Pierre Teillac, Andrea Tubaro, J.Curtis Nickel
Page :274-276
Lori J Sokoll, Daniel W Chan, Stephen D Mikolajczyk, Harry G Rittenhouse, Cindy L Evans, Harry J Linton, Leslie A Mangold, Phaedre Mohr, Georg Bartsch, Helmut Klocker, Wolfgang Horninger, Alan W Partin
Page :277-281
William J Ellis, Jesco Pfitzenmaier, Janet Colli, Edward Arfman, Paul H Lange, Robert L Vessella
Page :282-286
Erdal Yilmaz, Saziye Ozcan, Murat Basar, Hulya Basar, Ertan Batislam, Mehmet Ferhat
Page :287-290
M.M Koraitim, M.A Atta, G.A Fattah, H.R Ismail
Page :291-296
Christopher S Ng, Agnes J Yost, Stevan B Streem
Page :297-301
Lillian J Hsieh, H.Ballentine Carter, Patricia K Landis, Katherine L Tucker, E.Jeffrey Metter, Craig J Newschaffer, Elizabeth A Platz
Page :302-307
Pierre I Karakiewicz, Michael W Kattan, Simon Tanguay, Mostafa M Elhilali, Michel Bazinet, Peter T Scardino, Armen G Aprikian
Page :308-313
Simon Wilkinson, Marcy List, Michael Sinner, Lanting Dai, Gerald Chodak
Page :314-319
Ken-Ryu Han, Allan J Pantuck, Matthew H.T Bui, Oleg Shvarts, Danielo G Freitas, Amnon Zisman, Bradley C Leibovich, Frederick J Dorey, Barbara J Gitlitz, Robert A Figlin, Arie S Belldegrun
Page :320-322
Thomas H.S Hsu, L.i-Ming Su, Bruce J Trock, Lloyd E Ratner, Paul Colombani, Louis R Kavoussi
Page :323-327
Thomas H.S Hsu, L.i-Ming Su, Lloyd E Ratner, Bruce J Trock, Louis R Kavoussi
Page :328-331
Aseem R Shukla, Julio M Pow-Sang, Mohammed A Helal, John Seigne, Raul Ordorica, Jorge L Lockhart
Page :332-337
R Waidelich, W Beyer, R Knchel, H Stepp, R Baumgartner, J Schrder, A Hofstetter, M Kriegmair
Page :338-341
Andreas P Berger, Hannes Steiner, Arnulf Stenzl, Thomas Akkad, Georg Bartsch, Lorenz Holtl
Page :342-347
Timothy G Schuster, Robert Marcovich, Jacqueline Sheffield, James E Montie, Cheryl T Lee
Page :347
John P. Stein
Page :347
Cheryl T. Lee
Page :348-353
Steven J Jacobsen, Debra J Jacobson, Daniel E Rohe, Cynthia J Girman, Rosebud O Roberts, Michael M Lieber
Page :354-358
John S Lam, Nicholas A Romas, Franklin C Lowe
Page :359-364
Shahrokh F Shariat, JaHong Kim, Cuong Nguyen, Thomas M Wheeler, Seth P Lerner, Kevin M Slawin
Page :365-369
Stephen J Freedland, Mark E Sutter, Frederick Dorey, William J Aronson
Page :370-374
Akitoshi Fukatsu, Yoshinari Ono, Masafumi Ito, Yasushi Yoshino, Ryohei Hattori, Momokazu Gotoh, Shinichi Ohshima
Page :375-379
Benjamin Martin, Carol Cheli, Steven Pollard, Jerry Sullivan, Jack Goodman, Mohan Kokatnur, Maria Ward, Laraine Martin, Don Mercante, Walter Rayford
Page :380-385
Rajesh Shinghal, Cheryl Yemoto, John E McNeal, James D Brooks
Page :386-390
Laurent Salomon, Aristotelis G Anastasiadis, Olivier Levrel, Ran Katz, Fabien Saint, Alexandre de la Taille, Antony Cicco, Dimitri Vordos, Andras Hoznek, Dominique Chopin, Clement-Claude Abbou
Page :391-396
Kevin P McMullen, W.Robert Lee
Page :397-401
Markku J Leskinen, Raija Vainionp, Stina Syrjnen, Mikael Leppilahti, Timo Marttila, Timo Kylml, Teuvo L.J Tammela
Page :402-407
Joshua D Hall, James C Boyd, Marguerite C Lippert, Dan Theodorescu
Page :408-411
Jerry Barker, Kent Wallner, Gregory Merrick
Page :412-416
Choonghee Noh, Ashutosh Kshirsagar, James L Mohler
Page :417-420
M.A Fischer, J.E Grantmyre
Page :421-425
M Schrader, M Mller, N Sofikitis, B Straub, H Krause, K Miller
Page :426-430
P.Inar KadIolu, Ahmet Tefekli, B.lent Erol, ner ŞanlI, Muammer Kendirci, E.şref zer, stn Korugan, Ateş KadIolu
Page :431-436
Edson Duarte Moreira, Carlos Fernando Lisboa Lbo, Agla Diament, Alfredo Nicolosi, Dale B Glasser
Page :437-441
Kenneth H Ferguson, R.Duane Cespedes
Page :442-446
John J Chen, Jeff Pugach, Doug West, Shahida Naseer, George F Steinhardt
Page :446-447
Saul P. Greenfield
Page :447
Page :448-451
Frank Richter, Peter A Pinto, Jeffrey A Stock, Moneer K Hanna
Page :452-455
Guido Barbagli, Enzo Palminteri, Massimo Lazzeri, Giorgio Guazzoni
Page :456-457
Gregory D. Leonard, Sen H. Zhuang, William Dahut
Page :458-459
Chris B. Threatt, John S. Wiener
Page :460-461
John F. Redman, Meredith L. Lightfoot
Page :462
Jeffrey A Stern, J.Quentin Clemens
Page :462
Dean L Lenz, David L Clair, Arthur E Fetzer, Carson Wong
Page :462
Daniel G da Justa, Fernando J Bianco, Adrian Ogle, Chirpriya B Dhabuwala
Page :462
R.D Brierly, R.G Hindley, B.J Challacombe, R.J Popert
Page :462
Tammy L Bloom, Christine L Gray Sears, Todd R Williams, Ron L Linfesty, Christopher L Amling
Page :462
Basil F El-Rayes, Carrie A Black, John F Ensley
Page :463
Emre Tuzel, M.Ugur Mungan, Kutsal Yorukoglu, Alper Basakci, Ziya Kirkali
Page :463
Eugene Huang, Bin S Teh, Dina R Mody, L.Steven Carpenter, E.Brian Butler
Page :463
Steve Y Chung, Benjamin J Davies, Walter F O’Donnell
Page :464-467
E Bischoff, M Schramm, A Straub, A Feurer, J.-P Stasch
Page :468-473
G Fechner, F.G.E Perabo, D.H Schmidt, L Haase, E Ludwig, H Schueller, J Blatter, S.C Mller, P Albers
Page :474-478
Yosh Yoshimura, Osamu Yamaguchi, Francois Bellamy, Christos E Constantinou
Page :479-483
Stefan Machtens, Stefan ckert, Christian G Stief, Dimitrios Tsikas, J.rgen C Frlich, Udo Jonas
Page :484-489
Motoki Yamashita, Xianghua Zhang, Taizo Shiraishi, Hirotsugu Uetsuki, Yoshiyuki Kakehi
Page :490
Manoj Monga, Jaime Landman, Ralph V. Clayman
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.