Vol 69 - N° 2 - février 2007
P. A1-A22© Elsevier Masson SAS
Page :203-209
S. Sivalingam, J. Oxley, J.L. Probert, J.U. Stolzenburg, H. Schwaibold
Page :210-214
Christina Diggs, Walter A. Meyer, Patricia Langenberg, Patty Greenberg, Linda Horne, John W. Warren
Page :215-220
David A. Katz, David F. Jarrard, Colleen A. McHorney, Stephen L. Hillis, Donald A. Wiebe, Dennis G. Fryback
Page :221-225
Sherri Machele Donat
Page :226-229
Erik Kouba, Angela M. Smith, J. Eric Derksen, Kris Gunn, Eric Wallen, Raj S. Pruthi
Page :230-235
Géraldine Pignot, Caroline Elie, Sophie Conquy, Annick Vieillefond, Thierry Flam, Marc Zerbib, Bernard Debré, Delphine Amsellem-Ouazana
Page :236-240
Takumi Teratani, Tomohiro Domoto, Ken Kuriki, Teruyo Kageyama, Tatsuya Takayama, Akira Ishikawa, Seiichiro Ozono, Ryushi Nozawa
Page :241-244
Britton E. Tisdale, Anil Kapoor, Abdullatif Hussain, Kevin Piercey, J. Paul Whelan
Page :245-250
Michael I. Koukourakis, Christos Tsolos, Stavros Touloupidis
Page :251-254
Jay D. Raman, R. Ernest Sosa, E. Darracott Vaughan, Douglas S. Scherr
Page :255-259
Matthew D. Galsky, Alexia Iasonos, Svetlana Mironov, Joseph Scattergood, S. Machele Donat, Bernard H. Bochner, Harry W. Herr, Paul Russo, Mary G. Boyle, Dean F. Bajorin
Page :260-264
Edwin Hungerhuber, Herbert Stepp, Martin Kriegmair, Christian Stief, Alfons Hofstetter, Arndt Hartmann, Ruth Knuechel, Alexander Karl, Stefan Tritschler, Dirk Zaak
Page :265-269
Tsunenori Kondo, Hayakazu Nakazawa, Fumio Ito, Yasunobu Hashimoto, Hiroshi Toma, Kazunari Tanabe
Page :270-274
Motoo Araki, Alan M. Nieder, Murugesan Manoharan, Yulong Yang, Mark S. Soloway
Page :275-279
Atsushi Uchida, Hiroyuki Yonou, Eiri Hayashi, Kei Iha, Masami Oda, Minoru Miyazato, Yoshinori Oshiro, Sanehiro Hokama, Kimio Sugaya, Yoshihide Ogawa
Page :280-284
Matthew N. Simmons, Inderbir S. Gill, Amr F. Fergany, Jihad H. Kaouk, Mihir M. Desai
Page :285-288
Jose E. Batista-Miranda, Beatriz Molinuevo, Yolanda Pardo
Page :289-294
Aminah Jatoi, Patrick Burch, David Hillman, Joanne M. Vanyo, Shaker Dakhil, Daniel Nikcevich, Kendrith Rowland, Roscoe Morton, Patrick J. Flynn, Charles Young, Winston Tan
Page :295-299
O. Kenneth Macdonald, R. Jeffrey Lee, Greg Snow, Christopher M. Lee, Jonathan D. Tward, Anthony W. Middleton, George W. Middleton, William T. Sause
Page :300-305
Kevin C. Zorn, Marcelo A. Orvieto, Albert A. Mikhail, Ofer N. Gofrit, Shang Lin, Anthony J. Schaeffer, Arieh L. Shalhav, Gregory P. Zagaja
Page :306-310
David S. Ellis, Theodore B. Manny, John C. Rewcastle
Page :311-314
Vladimir Mouraviev, Israel Nosnik, Leon Sun, Cary N. Robertson, Philip Walther, David Albala, Judd W. Moul, Thomas J. Polascik
Page :315-319
David D. Thiel, Paul R. Young, Gregory A. Broderick, Michael G. Heckman, Michael J. Wehle, Todd C. Igel, Steven P. Petrou
Page :320-325
Klaus Jung, Wolfgang Hoesel, Jeanett Reiche, Serdar Deger, Jürgen Kramer, Stefan A. Loening, Michael Lein, Carsten Stephan
Page :326-329
Takashige Abe, Nobuo Shinohara, Toru Harabayashi, Ataru Sazawa, Shin Suzuki, You Kawarada, Katsuya Nonomura
Page :330-333
Satish Sharma, Hyung Lae Kim, James L. Mohler
Page :334-337
Michael Dattoli, Kent Wallner, Lawrence True, Jennifer Cash, Richard Sorace
Page :338-342
Nelson N. Stone, Richard G. Stock
Page :343-346
Fernando J. Bianco, Kozhaya N. Mallah, Ruslan Korets, Hedvig Hricak, Peter T. Scardino, Michael W. Kattan
Page :347-351
Giuseppe Di Lorenzo, Riccardo Autorino, Mario Giuliano, Emilio Morelli, Antonio Giordano, Giorgio Napodano, Aniello Russo, Giuseppe Benincasa, Massimino D’Armiento, Vincenzo Altieri, Sabino De Placido
Page :352-355
Joong Shik Lee, Heung Jae Park, Ju Tae Seo
Page :356-360
Kaan Bal, Mehmet Öder, Ali S. Şahin, Cüneyt T. Karataş, Ömer Demir, Ertan Can, Bilali H. Gümüş, Kutan Özer, O.ğuz Şahin, A. Adil Esen
Page :361-365
Sompol Permpongkosol, Guilherme C. Lima, Christopher A. Warlick, Mohamad E. Allaf, Ioannis M. Varkarakis, Herman S. Bagga, Sahar Kohanim, Louis R. Kavoussi
Page :366-368
Melih Sunay, Mümtaz Dadalı, Ayhan Karabulut, Levent Emir, Demokan Erol
Page :369-371
Yuval Bar-Yosef, Joseph Binyamini, Haim Matzkin, Jacob Ben-Chaim
Page :372-374
Daniel S. Kellner, John A. Fracchia, Erich Voigt, Noel A. Armenakas
Page :375-376
Thomas R. Hefty, Leslie C. Olson, Kalyan C. Latchamsetty
Page :377-380
Luigi Cormio, Pasquale Annese, Tommaso Corvasce, Mario De Siati, Francesco P. Turri, Fabrizio Lorusso, Salvatore Pentimone, Antonia Perrone, Giuseppe Carrieri
Page :381
Neeraj Kumar Goyal, S. Trivedi, U.S. Dwivedi, P.B. Singh
Page :382-383
Keith L. Lee, Harcharan S. Gill, Fuad S. Freiha
Page :384.e1
Sarah D. Blaschko, Leslie A. Deane, James F. Borin, Duane Vajgrt, Elspeth M. McDougall, Ralph V. Clayman
Page :384.e5
Friederike Egberts, Jan-Hendrik Egberts, Thomas Schwarz, Axel Hauschild
Page :384.e9
Mark S. Shimko, Stephen C. Jacobs, Michael W. Phelan
Page :384.e11
Ali Atan, Altug Tuncel, Yilmaz Aslan
Page :384.e15
Michael A. White, John P. Kepros, Leonard J. Zuckerman
Page :384.e19
John A. Califano, Stephen D. Confer, Vincenzo Galati, Ikechukwu Oguejiofor, C. Scott Manatt, Karl R. Hansen, Daniel J. Culkin
Page :385.e1
Romaric Loffroy, Julien Bry, Boris Guiu, Thomas Dubruille, Frédéric Michel, Jean-Pierre Cercueil, Denis Krausé
Page :385.e5
Raj K. Goel, Liam T. Hickey, Ricardo A. Rendon
Page :386-389
Raffi Bekeredjian, Helmut F. Kuecherer, Richard D. Kroll, Hugo A. Katus, Stefan E. Hardt
Page :390-394
Lynsey A. McHugh, Marina Kriajevska, John K. Mellon, Thomas R. Griffiths
Page :395-401
Osamu Shimada, Xiuxian Wu, Xinghua Jin, Mohammed Ahmed Abdel-Muneem Nouh, Michele Fiscella, Vivian Albert, Tadashi Matsuda, Yoshiyuki Kakehi
Page :402-406
Mark B. Lyon, Marcelo A. Orvieto, Kevin C. Zorn, Stephen R. Tolhurst, David E. Rapp, Albert A. Mikhail, Charles B. Brendler, Arieh L. Shalhav
Page :407-411
H. Henry Lai, Timothy B. Boone, Timothy C. Thompson, Christopher P. Smith, George T. Somogyi
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.