In this paper, we described the Infrared technologies (MCT, QWIP and microbolometers) characterization carried out by CELAR, in addition to the Electro-Optical (EO) characterization driven by ONERA, both backing up service programs of the French National Armaments Organization (DGA). After a brief description of the methodology and tools used, some results are given in order to show the construction and failure analysis contributions in the correlation of EO defects to visual defects and also, in the quality and preventive reliability improvements for these IR technologies, for a better satisfaction of the military end-users needs. To cite this article: P. Burgaud et al., C. R. Physique 4 (2003).

Le présent papier décrit la caractérisation technologique menée au CELAR sur les technologies IR (HgCdTe, puits quantiques et les microbolomètres) au profit des Services de Programmes de la DGA en complément de la caractérisation électro-optique réalisée par l'ONERA. Après une brève description de la méthodologie et des outils, différents résultats illustrent l'apport de l'analyse de construction et de l'analyse de défaillance dans la corrélation des défauts visuels et électro-optiques et dans l'amélioration de la qualité et de la fiabilité préventive des technologies IR pour une meilleure satisfaction du besoin client. Pour citer cet article : P. Burgaud et al., C. R. Physique 4 (2003).