Suscribirse

Future directions in high-resolution electron microscopy: Novel optical components and techniques - 14/03/14

Doi : 10.1016/j.crhy.2013.11.003 
Peter Hawkes
 CEMES–CNRS, BP 94347, 31055 Toulouse cedex, France 

Bienvenido a EM-consulte, la referencia de los profesionales de la salud.
El acceso al texto completo de este artículo requiere una suscripción.

páginas 9
Iconografías 6
Vídeos 0
Otros 0

Abstract

Aberration-corrected electron microscopes currently dominate the high-resolution scene but they are not the only instruments that can provide such information. Other techniques are attracting attention, notably ptychography and the use of phase plates. Moreover, operation of these aberration-corrected microscopes at their ultimate performance raises questions that are still under discussion. We note too that correctors can be useful for tasks other than correction, such as vortex beam creation. To conclude, the specialized role of electron mirrors is recalled.

El texto completo de este artículo está disponible en PDF.

Résumé

La microscopie à haute résolution est actuellement dominée par les microscopes électroniques équipés de correcteurs d'aberration, mais ces instruments ne sont pas les seuls capables d'atteindre le domaine de la haute résolution. D'autres techniques les concurrencent, notamment la ptychographie et l'utilisation des dispositifs à phase. De plus, l'opération des microscopes corrigés soulève des incertitudes. Notons que les correcteurs peuvent jouer d'autres rôles que la correction, la création de faisceaux vorticiels, par exemple. En conclusion, la correction par miroir électronique est évoquée.

El texto completo de este artículo está disponible en PDF.

Keywords : Aberration correctors, Noise, Mirrors, Ptychography, Phase plates, Vortex beams

Mots-clés : Correcteurs d'aberrations, Bruit, Mirroirs, Ptychographie, Dispositifs à phase, Faisceaux vorticiels


Esquema


© 2013  Académie des sciences. Publicado por Elsevier Masson SAS. Todos los derechos reservados.
Añadir a mi biblioteca Eliminar de mi biblioteca Imprimir
Exportación

    Exportación citas

  • Fichero

  • Contenido

Vol 15 - N° 2-3

P. 110-118 - février 2014 Regresar al número
Artículo precedente Artículo precedente
  • Seeing and measuring with electrons: Transmission electron microscopy today and tomorrow – An introduction
  • Christian Colliex
| Artículo siguiente Artículo siguiente
  • Measuring three-dimensional positions of atoms to the highest accuracy with electrons
  • Christoph T. Koch, Wouter Van den Broek

Bienvenido a EM-consulte, la referencia de los profesionales de la salud.
El acceso al texto completo de este artículo requiere una suscripción.

Bienvenido a EM-consulte, la referencia de los profesionales de la salud.
La compra de artículos no está disponible en este momento.

¿Ya suscrito a @@106933@@ revista ?

@@150455@@ Voir plus

Mi cuenta


Declaración CNIL

EM-CONSULTE.COM se declara a la CNIL, la declaración N º 1286925.

En virtud de la Ley N º 78-17 del 6 de enero de 1978, relativa a las computadoras, archivos y libertades, usted tiene el derecho de oposición (art.26 de la ley), el acceso (art.34 a 38 Ley), y correcta (artículo 36 de la ley) los datos que le conciernen. Por lo tanto, usted puede pedir que se corrija, complementado, clarificado, actualizado o suprimido información sobre usted que son inexactos, incompletos, engañosos, obsoletos o cuya recogida o de conservación o uso está prohibido.
La información personal sobre los visitantes de nuestro sitio, incluyendo su identidad, son confidenciales.
El jefe del sitio en el honor se compromete a respetar la confidencialidad de los requisitos legales aplicables en Francia y no de revelar dicha información a terceros.


Todo el contenido en este sitio: Copyright © 2026 Elsevier, sus licenciantes y colaboradores. Se reservan todos los derechos, incluidos los de minería de texto y datos, entrenamiento de IA y tecnologías similares. Para todo el contenido de acceso abierto, se aplican los términos de licencia de Creative Commons.