Vol 14 - N° 4-5 - juillet 2010
P. 227-410Elsevier Masson SAS, © Société française de radiothérapie oncologique (SFRO)
Dose de tolérance à l'irradiation des tissus sains
Página :i
Página :227
J.-P. Gérard, C. Ortholan, Y. Pointreau
Esquema
Página :228-231
J.-M. Cosset
Resumen
Esquema
Página :232-235
A. Mervoyer, A. Lisbonna, E. Rio, M. Mahé
Resumen
Esquema
Página :236-240
S. Dewas, E. Lartigau
Resumen
Esquema
Página :241-245
N. Rezvoy, B. Dubray
Resumen
Esquema
Página :246-249
Y. Pointreau, S. Kreps, C. Hennequin
Resumen
Esquema
Página :250-254
D. Azria, Y. Pointreau, A. Toledano, M. Ozsahin
Resumen
Esquema
Página :255-262
J. Doyen, A. Courdi, J.-P. Gérard
Resumen
Esquema
Página :263-268
S. Haberer, A. Assouline, J.-J. Mazeron
Resumen
Esquema
Página :269-276
J.-L. Habrand, F. Drouet
Resumen
Esquema
Página :277-283
V. Marchand, R. Dendale
Resumen
Esquema
Página :284-289
B. Fleury, M. Lapeyre
Resumen
Esquema
Página :290-294
C. Ortholan, K. Benezery, R.-J. Bensadoun
Resumen
Esquema
Página :295-300
A. Berger, R.-J. Bensadoun
Resumen
Esquema
Página :301-306
C. Debelleix, Y. Pointreau, C. Lafond, F. Denis, G. Calais, J.-H. Bourhis
Resumen
Esquema
Página :307-311
O. Berges, Y. Belkacemi, P. Giraud
Resumen
Esquema
Página :312-318
C. Ortholan, F. Mornex
Resumen
Esquema
Página :319-326
J. Doyen, P. Giraud, Y. Belkacemi
Resumen
Esquema
Página :327-335
G. Bera, Y. Pointreau, F. Denis, I. Orain, O. Dupuis, G. Créhange
Resumen
Esquema
Página :336-339
P. Oberdiac, L. Mineur
Resumen
Esquema
Página :340-343
S. Wong Hee Kam, F. Huguet
Resumen
Esquema
Página :344-349
B. De Bari, Y. Pointreau, E. Rio, X. Mirabel, F. Mornex
Resumen
Esquema
Página :350-353
É. Martin, Y. Pointreau, S. Roche-Forestier, I. Barillot
Resumen
Esquema
Página :354-358
P. Blanchard, O. Chapet
Resumen
Esquema
Página :359-362
M.-V. Moreau-Claeys, D. Peiffert
Resumen
Esquema
Página :363-368
Y. Pointreau, I. Atean, C. Durdux
Resumen
Esquema
Página :369-372
N. Magné, C. Chargari, Y. Pointreau, C. Haie-Meder
Resumen
Esquema
Página :373-375
E. Gross, C. Champetier, Y. Pointreau, A. Zaccariotto, T. Dubergé, C. Guerder, C. Ortholan, B. Chauvet
Resumen
Esquema
Página :376-378
C. Champetier, E. Gross, Y. Pointreau, A. Zaccariotto, T. Dubergé, C. Guerder, C. Ortholan, B. Chauvet
Resumen
Esquema
Página :379-385
A. Ginot, J. Doyen, J.-M. Hannoun-Lévi, A. Courdi
Resumen
Esquema
Página :386-391
P. Sargos, N. Mamou, C. Dejean, B. Henriques de Figueiredo, A. Huchet, A. Italiano, G. Kantor
Resumen
Esquema
Página :392-404
F. Drouet, J.-L. Lagrange
Resumen
Esquema
Página :405-410
B. Henriques de Figueiredo, A. Huchet, C. Dejean, N. Mamou, P. Sargos, H. Loiseau, G. Kantor
Resumen
Esquema
EM-CONSULTE.COM se declara a la CNIL, la declaración N º 1286925.
En virtud de la Ley N º 78-17 del 6 de enero de 1978, relativa a las computadoras, archivos y libertades, usted tiene el derecho de oposición (art.26 de la ley), el acceso (art.34 a 38 Ley), y correcta (artículo 36 de la ley) los datos que le conciernen. Por lo tanto, usted puede pedir que se corrija, complementado, clarificado, actualizado o suprimido información sobre usted que son inexactos, incompletos, engañosos, obsoletos o cuya recogida o de conservación o uso está prohibido.
La información personal sobre los visitantes de nuestro sitio, incluyendo su identidad, son confidenciales.
El jefe del sitio en el honor se compromete a respetar la confidencialidad de los requisitos legales aplicables en Francia y no de revelar dicha información a terceros.
Todo el contenido en este sitio: Copyright © 2026 Elsevier, sus licenciantes y colaboradores. Se reservan todos los derechos, incluidos los de minería de texto y datos, entrenamiento de IA y tecnologías similares. Para todo el contenido de acceso abierto, se aplican los términos de licencia de Creative Commons.
@@150162@@
