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Quantitative characterization of shear force regulation for scanning electrochemical microscopy - 01/03/13

Doi : 10.1016/j.crci.2012.03.011 
Ushula Mengesha Tefashe, Gunther Wittstock
Department of Pure and Applied Chemistry, Center of Interface Science, Faculty of Mathematics and Natural Sciences, Carl von Ossietzky University of Oldenburg, 26111 Oldenburg, Germany 

Corresponding author.

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Abstract

The quest for higher spatial resolution in scanning electrochemical microscopy (SECM) calls for the application of smaller probe electrodes. When electrodes are to be used in the feedback mode, smaller electrodes require higher intrinsic kinetics at the sample. The fabrication of nanoelectrodes, as well as their use as SECM probes at constant distance, are reported. The properties of shear force regulation system are characterized quantitatively. Simultaneous topography and reactivity imaging were demonstrated using gold microstructures on a glass substrate.

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Keywords : Scanning electrochemical microscopy, Constant distance mode, Shear force detection, Kinetics, Nanoelectrodes


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Vol 16 - N° 1

P. 7-14 - janvier 2013 Retour au numéro
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