S'abonner

Analyse microstructurale au MEB environnemental d'une craie soumise à chargement hydrique et mécanique - 13/02/08

Doi : 10.1016/j.crte.2007.06.003 
Claudia Sorgi a, 1 , Vincenzo De Gennaro b,
a RATP, département de la maintenance des équipements et systèmes des espaces, 50, avenue du Val-de-Fontenay, 94120 Fontenay-sous-Bois, France 
b École nationale des ponts et chaussées (CERMES, institut Navier), 6-8, avenue Blaise-Pascal, cité Descartes, Champs-sur-Marne, 77455 Marne-la-Vallée cedex 2, France 

Auteur correspondant.

Bienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
L’accès au texte intégral de cet article nécessite un abonnement.

pages 14
Iconographies 9
Vidéos 0
Autres 0

Résumé

Le microscope électronique à balayage environnemental (MEBE) offre la possibilité d'observer la microstructure des échantillons dans leur état naturel, à des conditions de température et de pression contrôlées. Avec cet appareil, il n'est plus nécessaire, comme dans le cas du microscope électronique à balayage (MEB) classique, de traiter préalablement les échantillons (déshydratation et, dans le cas de matériaux isolants, utilisation d'une substance conductrice). Cela présente des avantages incontestables dans l'analyse des géomatériaux. Très utilisé dans plusieurs domaines liés à la science des matériaux, cet outil n'a pas encore été suffisamment mis à profit dans le domaine des géosciences. Dans la présente note, nous discutons de l'utilisation de cette technologie dans le cas spécifique des géomatériaux. Des exemples d'applications sont présentés pour le cas particulier de craies partiellement saturées, soumises à des conditions environnementales variables. Des perspectives de développement de cet outil pour des applications dans le domaine de la géomécanique sont également présentées.

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Abstract

The Electron Scanning Environmental Microscope (ESEM) allows the observation of microstructural changes of geomaterials in their natural state, under controlled conditions of temperature and pressure. Unlike the traditional Scanning Electron Microscopy (SEM), ESEM technology does not require any preliminary treatment of the observed samples (i.e. dehydration, and eventually conductive coating). This has undeniable advantages to the analysis of geomaterials' microstructure. Although ESEM applications are nowadays recurrent in many research fields related to materials science, this investigation tool is still seldom used in geomechanics. In this note, we discuss some aspects associated with this technology when used for geomaterials. Examples of applications are presented for the particular case of partially saturated chalks observed under variable environmental conditions. Some perspectives on the development of this instrument in relation with geomechanical applications are also discussed.

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Mots clés : MEBE, Microstructure, Craie, Géomécanique

Keywords : ESEM, Microstructure, Chalk, Geomechanics


Plan


© 2007  Académie des sciences. Publié par Elsevier Masson SAS. Tous droits réservés.
Ajouter à ma bibliothèque Retirer de ma bibliothèque Imprimer
Export

    Export citations

  • Fichier

  • Contenu

Vol 339 - N° 7

P. 468-481 - juin 2007 Retour au numéro
Article précédent Article précédent
  • Imagerie combinée géoélectrique-radar géologique des cavités souterraines de la ville de Zaouit Ech Cheikh (Maroc)
  • Kamal El Khammari, Abdessamad Najine, Mohammed Jaffal, Tahar Aïfa, Mahjoub Himi, Diego Vásquez, Albert Casas, Pierre Andrieux
| Article suivant Article suivant
  • Evidence for superposed MORB, oceanic plateau and volcanic arc series in the Lesser Caucasus (Stepanavan, Armenia)
  • Ghazar Galoyan, Yann Rolland, Marc Sosson, Michel Corsini, Rafael Melkonyan

Bienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
L’accès au texte intégral de cet article nécessite un abonnement.

Bienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
L’achat d’article à l’unité est indisponible à l’heure actuelle.

Déjà abonné à cette revue ?

Elsevier s'engage à rendre ses eBooks accessibles et à se conformer aux lois applicables. Compte tenu de notre vaste bibliothèque de titres, il existe des cas où rendre un livre électronique entièrement accessible présente des défis uniques et l'inclusion de fonctionnalités complètes pourrait transformer sa nature au point de ne plus servir son objectif principal ou d'entraîner un fardeau disproportionné pour l'éditeur. Par conséquent, l'accessibilité de cet eBook peut être limitée. Voir plus

Mon compte


Plateformes Elsevier Masson

Déclaration CNIL

EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.

En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.


Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.