Vol 198 - N° 4 - avril 2004
P. A1-A56© Elsevier Masson SAS
Page :509-518
James J. Reilly, Bridget Chin, Jon Berkowitz, Jeremy Weedon, Matthew Avitable
Page :519-524
Francisco Javier Dı́az-Aguirregoitia, Carlos Emparan, Sonia Gaztambide, Maria Angeles Aniel-Quiroga, Maria Angeles Busturia, José Antonio Vázquez, Luis F Pérdigo, Miguel Echenique-Elizondo
Page :525-534
Linwah Yip, Jeffrey E Lee, Suzanne E Shapiro, Steven G Waguespack, Steven I Sherman, Ana O Hoff, Robert F Gagel, James F Arens, Douglas B Evans
Page :534
Gerard M Doherty
Page :534-535
Linwah Yip, Jeffrey E Lee, Suzanne E Shapiro, Steven G Waguespack, Steven I Sherman, Ana O Hoff, Robert F Gagel, James F Arens, Douglas B Evans
Page :536-541
John W Briel, Anand P Tamhankar, Jeffrey A Hagen, Steven R DeMeester, Jan Johansson, Emmanouel Choustoulakis, Jeffrey H Peters, Cedric G Bremner, Tom R DeMeester
Page :541-542
David R Jones
Page :542
John W Briel, Tom R DeMeester
Page :543-548
Isaac Felemovicius, Margaret E Bonsack, Gonzalo Hagerman, John P Delaney
Page :549-558
Byung-Boong Lee, Yeon Hyeon Choe, Joong Mo Ahn, Young Soo Do, Dong-Ik Kim, Seo Ho Huh, Hong Sik Byun
Page :559-567
Rainer W.G. Gruessner, David E.R. Sutherland, David L Dunn, John S Najarian, Tun Jie, Bernhard J Hering, Angelika C Gruessner
Page :568
Clyde F Barker
Page :568-569
Rainer W.G Gruessner
Page :570-576
Michael D’Angelica, Robert C.G Martin, William R Jarnagin, Yuman Fong, Ronald P DeMatteo, Leslie H Blumgart
Page :577-582
Giovanni Varotti, Gabriel E. Gondolesi, Jeffrey Goldman, Michael Wayne, Sander S. Florman, Myron E. Schwartz, Charles M. Miller, Emre Sukru
Page :583-590
Prasad S. Adusumilli, Leah Ben-Porat, Meriner Pereira, Daniel Roesler, I.Michael Leitman
Page :591-599
Bridget N Fahy, Michael G Schlieman, Subbulakshmi Virudachalam, Richard J Bold
Page :600-625
John J Ricotta
Page :626-632
John D. Birkmeyer, Justin B. Dimick, Nancy J.O. Birkmeyer
Page :633-640
S Mahmood Zaré, Joseph Galanko, Kevin E. Behrns, Mark J. Koruda, Lisa M. Boyle, David R. Farley, Stephen R.T. Evans, Anthony A. Meyer, George F. Sheldon, Timothy M. Farrell
Page :641-644
Page :645-652
George N. Tzimas, Dimitri J. Koumanis, Sarkis Meterissian
Page :653-659
William S Stoney
Page :661-664
Frank J Scarpa, Naomi G Tamerin, Michael J Franco
Page :666-667
Christophe Trésallet, Fabrice Menegaux, Reynald Izzillo, Quang Nguyen-Thanh, Vincent Cardot, Jean-Paul Chigot
Page :668-669
Leoncio L Kaw, Bruce M Potenza, Raul Coimbra, David B Hoyt
Page :670-672
Yoshiyuki Kuwabara, Noriyuki Shinoda, Atsushi Sato, Masahiro Kimura, Hideyuki Ishiguro, Hironori Sugiura, Tadashi Tanaka, Takuya Ando, Yasushi Fujii, Yoshitaka Fujii
Page :673
Fernando A.M Herbella
Page :673-674
Steven R DeMeester
Page :674-676
Rakesh Kumar, Scott Potenta, Abass Alavi
Page :676
Amanda Robertson
Page :676
John S Radomski
Page :676-677
Gary W Barone
Page :677-678
Leonidas G Koniaris
Page :678-679
Juan A Asensio, Patrizio Petrone
Page :680
Page :681-683
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.