Vol 219 - N° 3 - mars 2020
P. 385-540© Elsevier Masson SAS
Page :i
Page :iii
Page :385
Kirby I. Bland
Page :386-389
Nicholas J. Zyromski
Page :390-393
Rachel E. Simpson, Mitchell L. Fennerty, Katelyn F. Flick, Cameron L. Colgate, Eugene P. Ceppa, Michael G. House, Nicholas J. Zyromski, Attila Nakeeb, C. Max Schmidt
Page :394-395
R.E. Simpson, M.L. Fennerty, K.F. Flick, C.L. Colgate, E.P. Ceppa, M.G. House, N.J. Zyromski, A. Nakeeb, C.M. Schmidt
Page :396-398
Patrick Knight, Jesse Chou, Melissa Dusseljee, Stuart Verseman, Alain Elian
Page :399
P. Knight, S. Verseman, A. Elian
Page :400-403
Brian T. Young, Samuel J. Zolin, Alexandra Ferre, Vanessa P. Ho, Alexis R. Harvey, Kevin T. Beel, Esther S. Tseng, Kristen Conrad-Schnetz, Jeffrey A. Claridge
Page :404-405
B.T. Young, S.J. Zolin, K.T. Beel, A.R. Harvey, V.P. Ho, E.S. Tseng, J.A. Claridge
Page :406-410
Mariane Gouvêa Monteiro de Camargo, Xhileta Xhaja, Alexandra Aiello, David Liska, Emre Gorgun, David W. Dietz, Matthew F. Kalady, Conor P. Delaney, Scott R. Steele, Michael A. Valente
Page :411-414
Bianca Di Chiaro, Patrick J. Sweigert, Purvi P. Patel, Adam S. Kabaker
Page :415
P.J. Sweigert, B. DiChiaro, P.P. Patel, A.S. Kabaker
Page :416-418
Greg Markell
Page :419-423
Awad Jarrar, Reena Sheth, James Tiernan, Audry Sebikali-Potts, David Liska, Dominic Vitello, Matthew Kalady, Conor P. Delaney, Michael Valente, Scott R. Steele
Page :424
A. Jarrar, J. Tiernan, J. Helliwell, B. Bandi, D. Liska, R. Seth, M. Valente, P. Sagar, S. Steele
Page :425-428
Aldo Fafaj, Luciano Tastaldi, Hemasat Alkhatib, Samuel Zolin, Diya Alaedeen, Clayton Petro, Ajita S. Prabhu, Steven Rosenblatt, Michael J. Rosen, David M. Krpata
Page :429
D.M. Krpata, L. Tastaldi, C.C. Petro, A. Fafaj, S. Rosenblatt, A.S. Prabhu
Page :430-433
Caroline Breit, Elizabeth Ablah, Margaret Ward, Hayrettin Okut, Patty L. Tenofsky
Page :434-435
C. Breit, E. Ablah, M. Ward, H. Okut, S.D. Helmer, P.L. Tenofsky
Page :436-439
Dhruv J. Patel, Waseem Lutfi, Patrick Sweigert, Emanuel Eguia, Gerard Abood, Lawrence Knab, Paul C. Kuo, Marshall S. Baker
Page :440-441
D. Patel, W.Lutfi P. Sweigert, E. Eguia, G. Abood, L. Knab, P.C. Kuo, M.S. Baker
Page :442-444
Roxanne Kyriakakis, Kathrine Kelly-Schuette, Rebecca Hoedema, Martin Luchtefeld, James Ogilvie
Page :445
J.W. Ogilvie, R. Kyriakakis, M. Luchtefeld
Page :446-452
Jeffrey B. Matthews
Page :453-459
Aaron Lee Wiegmann, Syed I. Khalid, Alison C. Coogan, Thomas Q. Xu, Laura A. DeCesare, Nicholas J. Skertich, Jose Velasco, Jonathan A. Myers
Page :460-461
Page :462-464
Solhee Lee, Joseph R. Buck, Anna M. Ledgerwood, Charles E. Lucas
Page :465
C. Lucas, S. Lee, J. Buck, A. Ledgerwood
Page :466-470
Amna M. Khokar, Kristine M. Kuchta, Tricia A. Moo-Young, David J. Winchester, Richard A. Prinz
Page :471
A. Khokar, K. Kuchta, S. Abadin, T. Moo-Young, D. Winchester, R. Prinz
Page :472-476
D.P. Slakey, D.S. Silver, S.M. Chazin, P.Y. Katoozian, K.S. Sikora, M.M. Ruther
Page :477
D.P. Slakey, D.S. Silver, S.M. Chazin, P. Katoozian, K.S. Sikora
Page :478-483
Eliza W. Beal, Ahmed Ahmed, Travis Grotz, Jennifer Leiting, Keith F. Fournier, Andrew J. Lee, Sean Dineen, Sophie Dessureault, Joel M. Baumgartner, Jula Veerapong, Callisia Clarke, Erin Strong, Shishir K. Maithel, Mohammad Y. Zaidi, Sameer Patel, Vikrom Dhar, Ryan Hendrix, Laura Lambert, Fabian Johnston, Nadege Fackche, Mustafa Raoof, Christopher LaRocca, Sean Ronnekleiv-Kelly, Courtney Pokrzywa, Timothy M. Pawlik, Sherif Abdel-Misih, Jordan M. Cloyd
Page :484-485
Page :486-489
Kayla B. Hicks, Kathleen Glaser, Charleen Scott, Debra Sparks, Christopher R. McHenry
Page :490-491
K. Hicks, K. Glaser, C. Scott, D. Sparks, C. McHenry
Page :492-495
Michele T. Yip-Schneider, Mazhar Soufi, Rosalie A. Carr, Katelyn F. Flick, Huangbing Wu, Cameron L. Colgate, C. Max Schmidt
Page :496
M.T. Yip -Schneider, M. Soufi, R.A. Carr, K.F. Flick, H. Wu, C.M. Schmidt
Page :497-501
Haroon Janjua, Evelena Cousin-Peterson, Tara M. Barry, Marissa C. Kuo, Marshall S. Baker, Paul C. Kuo
Page :502-503
H. Janjua, E. Cousin -Peterson, M.C. Kuo, M.S. Baker, P.C. Kuo
Page :504-507
Minyoung Kwak, J. Hunter Mehaffey, Robert B. Hawkins, Angel Hsu, Bruce Schirmer, Peter T. Hallowell
Page :508
M. Kwak, J.H. Mehaffey, A. Hsu, R.B. Hawkins, B. Schirmer, P.T. Hallowell
Page :509-512
Thomas K. Maatman, Jamaica A. Westfall-Snyder, Megan E. Nicolas, Elliott J. Yee, Eugene P. Ceppa, Michael G. House, Attila Nakeeb, C. Max Schmidt, Nicholas J. Zyromski
Page :513-514
T.K. Maatman, M.E. Nicolas, J.A. Westfall-Snyder, E.P. Ceppa, M.G. House, A. Nakeeb, C.M. Schmidt, N.J. Zyromski
Page :515-520
Awad Jarrar, Armin Edalatpour, Audry Sebikali-Potts, Dominic Vitello, Michael Valente, David Liska, Matthew Kalady, Conor P. Delaney, Scott R. Steele
Page :521
A. Jarrar, D. Liska, M. Cruise, J. Church, M. Valente, M. Kalady, C. Delaney, S. Steele
Page :522-526
Dhruv J. Patel, Waseem Lutfi, Patrick Sweigert, Emanuel Eguia, Gerard Abood, Lawrence Knab, Paul C. Kuo, Marshall S. Baker
Page :527-529
Ipek Sapci, Irbaz Hameed, Arda Ceylan, Ayda Oktem, Ahmet Rencuzogullari, Tracy L. Hull, David Liska, Conor P. Delaney, Emre Gorgun
Page :530-534
Thomas W. Smith, Xuanji Wang, Marc A. Singer, Constantine V. Godellas, Faaiza T. Vaince
Page :535-539
Adrian W. Ong, Stephan R. Myers
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.