Vol 43 - N° 4 - septembre 2017
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Page :332-337
Y. Gutiérrez-Grobe, E. Juárez-Hernández, B.A. Sánchez-Jiménez, M.H. Uribe-Ramos, M.H. Ramos-Ostos, M. Uribe, N.C. Chávez-Tapia
Page :338-344
A.J.J.M. Oostvogels, C.P. Landstra, L. Britsemmer, R. Lodewijkx, K. Stronks, T.J. Roseboom, T.G.M. Vrijkotte
Page :345-350
L. Shen, L. Song, H. Li, B. Liu, X. Zheng, L. Zhang, J. Yuan, Y. Liang, Y. Wang
Page :351-358
G.B. Bolli, M.C. Riddle, R.M. Bergenstal, M. Wardecki, H. Goyeau, P.D. Home, EDITION 3 study investigators
Page :359-363
W. Gu, Y. Liu, Y. Chen, W. Deng, X. Ran, L. Chen, D. Zhu, J. Yang, J. Shin, S.W. Lee, T.L. Cordero, Y. Mu
Page :364-367
I. Jialal, B. Adams-Huet, A. Major, S. Devaraj
Page :368-372
L. Guénette, A. Zongo, L. Guillaumie, S. Lauzier, L. Blais, J.-P. Grégoire, J. Moisan
Page :373-374
M.D. Garcia de Lucas, J. Olalla Sierra
Page :375-377
A. Catalano, B. Pintaudi, N. Morabito, L. Giunta, S. Loddo, F. Corrado, R. D’Anna, A. Lasco, A. Di Benedetto
Page :378-381
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Page :382-384
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Page :385-388
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Page :389-391
C. Ress, A.R. Moschen, V. Thoeni, C.F. Ebenbichler, H. Weiss, C. Molnar, G. Weiss, H. Tilg, S. Kaser
Page :392-394
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Page :395-397
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