Vol 106 - N° 2 - avril 2020
P. 211-384Elsevier Masson SAS
Page :i
Page :iv
Page :211-212
Philippe Clavert, Henri Migaud
Page :213-215
Matthieu Ollivier, Christophe Jacquet, Roger Erivan, Patrick Devos, Benjamin Bouyer, Matthieu Ehlinger
Page :217-222
Jean-Christophe Murray, Alexandre Leclerc, Amerigo Balatri, Stéphane Pelet
Page :223-227
Pierre-Henri Flurin, Maxime Antoni, Pierre Métais, Richard Aswad, SoFEC
Page :229-234
Vincent Martinel, Nicolas Bonnevialle
Page :235-239
Matthieu Mazaleyrat, Raphaël Barthélémy, Loïc Bouilleau, Christophe Charousset, Julien Berhouet
Page :241-246
Alexandre Lädermann, Joe Chih-Hao Chiu, Grégory Cunningham, Anthony Hervé, Sébastien Piotton, Hugo Bothorel, Philippe Collin
Page :247-254
Ian Peeters, Stijn Herregodts, Lieven De Wilde, Alexander Van Tongel
Page :255-259
Marieke F. van Wier, Ihsane Amajjar, Noortje C. Hagemeijer, Femke M.A.P. Claessen, Michel P.J. van den Bekerom, Derek F.P. van Deurzen
Page :261-267
Pierre Grobost, Mehdi Boudissa, Gaël Kerschbaumer, Sébastien Ruatti, Jérôme Tonetti
Page :269-274
Jonathan Lebhar, Pierre Kriegel, Patrick Chatellier, Yann Breton, Mickael Ropars, Denis Huten
Page :275-279
Mourad Ould-Slimane, Pauline Cantogrel, Emeric Lefèvre, Henry François Parent, Rémi Gauthé
Page :281-283
Nicolas Bronsard, Yann Pelletier, Olivier Andréani, Fernand de Peretti, Christophe Trojani
Page :285-289
Jonathan Lebhar, Pierre Kriegel, Raphaël Guillin, Patrick Chatellier, Mickael Ropars, Denis Huten
Page :291-295
Hamid Namazi, Masood Kiani, Saeed Gholamzadeh, Amirreza Dehghanian, Dehghani Nazhvani Fatemeh
Page :297-300
Germain Pomares, Henry Coudane, François Dap, Gilles Dautel
Page :301-306
Young Ho Shin, Shin Woo Choi, Jae Kwang Kim
Page :307-310
Marion Besnard, Emilie Marteau, Jacky Laulan, Guillaume Bacle
Page :311-317
Maxime Antoni, Jean-François Kempf, Philippe Clavert
Page :319-323
Alejandro Lizaur-Utrilla, Daniel Martinez-Mendez, Maria F. Vizcaya-Moreno, Fernando A. Lopez-Prats
Page :325-328
Javier Zurriaga-Carda, Raul Rojas-Díaz, Luis Puertes-Almenar, Antonio Silvestre-Muñoz
Page :329-334
Émilie Marteau, Louis-Romée Le Nail, Philippe Rosset, Gonzague de Pinieux, Jacky Laulan, Steven Roulet, Guillaume Bacle
Page :335-339
Thomas Jager, Joao-Paulo Mussi, Germain Pomares
Page :341-346
Szabolcs Benis, Wim Vanhove, Nadine Hollevoet
Page :347-351
Isabel Graul, Robert Lindner, Nicky Schettler, Reinhard Friedel, Gunther O. Hofmann
Page :353-356
Dominik Kaiser, Alain-Charles Masquelet, Alain Sautet, Adeline Cambon-Binder
Page :357-364
Shingo Komura, Akihiro Hirakawa, Tomihiro Masuda, Marie Nohara, Ayaka Kimura, Yasuharu Matsushita, Haruhiko Akiyama
Page :365-370
Yuki Kikuchi, Kotaro Sato, Yoshikuni Mimata, Kenya Murakami, Gaku Takahashi, Minoru Doita
Page :371-376
Pieter Antoine Pierreux, Fabian Moungondo, Frédéric Arthur Schuind
Page :377-380
Yun-Qiang Zhuang, Jia-Yu Zhang, Xian-Bin Yu, Hua Chen, Yao-Sen Wu, Liao-Jun Sun
Page :381-382
Jiangen Lian, Junfeng Lian, Mingjin Zhong
Page :383
Martin Beck
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2025 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.