Vol 44 - N° 2 - août 1996
P. 109-218© Elsevier Masson SAS
Page :109-111
G.Todd Lemmel, Joseph H. Haseman, Douglas K. Rex, Emad Rahmani
Page :112-117
Shailesh C. Kadakia, Carl S. Wrobleski, Ami S. Kadakia, Nancy J. Meier
Page :118-123
James C. Gregor, Terry P. Ponich, Allan S. Detsky
Page :124-128
Geoffrey H. Haydon, John Dillon, Kenneth J. Simpson, Huw Thomas, Peter C. Hayes
Page :129-132
Shiro Urayama, Richard Kozarek, Shirley Raltz
Page :133-143
Sritharan S. Kadirkamanathan, David F. Evans, Feng Gong, Etsuro Yazaki, Mark Scott, C.Paul Swain
Page :144-150
Alex Geller, Bret T. Petersen, Christopher J. Gostout
Page :151-157
Thomas D. Schiano, Robert S. Fisher, Henry P. Parkman, Sidney Cohen, Marta Dabezies, Larry S. Miller
Page :158-163
Tony C.K. Tham, John S.A. Collins, R.G.Peter Watson, Peter K. Ellis, Edward M. McIlrath
Page :164-167
Umesh Choudhry, Christopher J. Barde, Ronald Markert, Narasimh Gopalswamy
Page :168-176
Robert M. Cothren, Michael V. Sivak, Jacques Van Dam, Robert E. Petras, Maryann Fitzmaurice, James M. Crawford, Jun Wu, James F. Brennan, Richard P. Rava, Ramasamy Manoharan, Michael S. Feld
Page :177-180
Volker F. Eckardt, Gerd Kanzler, Dieter Willems, Alexander J. Eckardt, Gudrun Bernhard
Page :181-184
Steven H. Gallo, Stephen A. McClave, Laszlo J.K. Makk, Stephen W. Looney
Page :185-187
Paul R. Tarnasky, John Morris, Robert H. Hawes, Brenda J. Hoffman, Peter B. Cotton, John T. Cunningham
Page :187-189
Adam Slivka
Page :189-190
Bhaskar Banerjee
Page :191-194
Rainer Sander, Hans Poesl
Page :195-197
Rui Silva, M.Emilia Paiva, C.Costa Santos
Page :197-199
Steve Carpenter, Rajiv Bansal, James M. Scheiman
Page :199-202
Glen D. Hooker, James C. Gregor, Terry P. Ponich, Thomas D. McLarty
Page :203-204
David A. Lieberman
Page :204-207
Scott Brazer
Page :208
Derrick F. Martin
Page :208-209
Nageshwar D. Reddy, Venkat G. Rao
Page :209
Caren J. Buchalter, Jamie S. Barkin
Page :209-210
Neil Stollman, Howard D. Manten
Page :210-211
Helmut Messmann, Wolfgang Vogt, Gunther Lock, Volker Gross, Jürgen Schölmerich, Axel Holstege
Page :216-217
Michael Field
Page :217
Charles J. Lightdale
Page :218
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.