Vol 78 - N° 1 - juillet 2013
P. A1-A32© Elsevier Masson SAS
Page :A4
Page :A9
Page :A14
Page :A17
Page :A18
Page :A22
Page :A29
Page :1-7
ASGE Standards of Practice Committee, Dayna S. Early, Ruben D. Acosta, Vinay Chandrasekhara, Krishnavel V. Chathadi, G. Anton Decker, John A. Evans, Robert D. Fanelli, Deborah A. Fisher, Kimberly Q. Foley, Lisa Fonkalsrud, Joo Ha Hwang, Terry Jue, Mouen A. Khashab, Jenifer R. Lightdale, V. Raman Muthusamy, Shabana F. Pasha, John R. Saltzman, Ravi Sharaf, Amandep K. Shergill, Brooks D. Cash
Page :8-12
ASGE Standards of Practice Committee, Deborah A. Fisher, Amandeep K. Shergill, Dayna S. Early, Ruben D. Acosta, Vinay Chandrasekhara, Krishnavel V. Chathadi, G. Anton Decker, John A. Evans, Robert D. Fanelli, Kimberly Q. Foley, Lisa Fonkalsrud, Joo Ha Hwang, Terry Jue, Mouen A. Khashab, Jenifer R. Lightdale, V. Raman Muthusamy, Shabana F. Pasha, John R. Saltzman, Ravi Sharaf, Brooks D. Cash
Page :13-21
Arthur J. Kaffes, Ken Liu
Page :22-29
Kenichiro Imai, Masaki Tanaka, Noriaki Hasuike, Naomi Kakushima, Kohei Takizawa, Hiroyuki Matsubayashi, Kinichi Hotta, Yuichiro Yamaguchi, Tetsuro Onitsuka, Kimihide Kusafuka, Hiroyuki Ono
Page :30-38
Frederike G.I. van Vilsteren, K. Nadine Phoa, Lorenza Alvarez Herrero, Roos E. Pouw, Carine M.T. Sondermeijer, Mike Visser, Fiebo J.W. Ten Kate, Mark I. van Berge Henegouwen, Bas L.A.M. Weusten, Erik J. Schoon, Jacques J.G.H.M. Bergman
Page :39-44
Tessa Verlaan, Wout O. Rohof, Albert J. Bredenoord, Susanne Eberl, Thomas Rösch, Paul Fockens
Page :45-46
Lee L. Swanstrom
Page :47
Melissa A. Sheiko, James A. Feinstein, Kelley E. Capocelli, Robert E. Kramer
Page :55-62
Jin Hee No, Sang Woo Kim, Chul-Hyun Lim, Jin Su Kim, Yu Kyung Cho, Jae Myung Park, In Seok Lee, Myung-Gyu Choi, Kyu Yong Choi
Page :63-72
Satoru Nonaka, Ichiro Oda, Makomo Makazu, Shin Haruyama, Seiichiro Abe, Haruhisa Suzuki, Shigetaka Yoshinaga, Takeshi Nakajima, Ryoji Kushima, Yutaka Saito
Page :73-80
Wei Wang, Alexander Shpaner, Somashekar G. Krishna, William A. Ross, Manoop S. Bhutani, Eric P. Tamm, Gottumukkala S. Raju, Lianchun Xiao, Robert A. Wolff, Jason B. Fleming, Jeffrey H. Lee
Page :81-90
Udayakumar Navaneethan, Norma G. Gutierrez, Ramprasad Jegadeesan, Preethi G.K. Venkatesh, Mujtaba Butt, Madhusudhan R. Sanaka, John J. Vargo, Mansour A. Parsi
Page :91-101
Do Hyun Park, Seung Uk Jeong, Byung Uk Lee, Sang Soo Lee, Dong-Wan Seo, Sung Koo Lee, Myung-Hwan Kim
Page :102-105
Mouen A. Khashab, John DeWitt
Page :106-114
Alessandro Repici, Cesare Hassan, Franco Radaelli, Pietro Occhipinti, Claudio De Angelis, Fabio Romeo, Silvia Paggi, Silvia Saettone, Fabio Cisarò, Manon Spaander, Prateek Sharma, Ernst J. Kuipers
Page :115-120
Helmut Neumann, Michael Vieth, Lucía C. Fry, Claudia Günther, Raja Atreya, Markus F. Neurath, Klaus Mönkemüller
Page :121-131
Marc Halphen, Denis Heresbach, Hans-Jurgen Gruss, Jonathan Belsey
Page :132-141
Douglas K. Rex, Philip O. Katz, Gerald Bertiger, Stephen Vanner, Lawrence C. Hookey, Vivian Alderfer, Raymond E. Joseph
Page :142.e1
James Buxbaum, William Ross, Shou-Jiang Tang, Brian Weston, G.S. Raju, Glenn M. Eisen
Page :143-149
Fabian Emura, Todd H. Baron, Ian M. Gralnek
Page :150-152
Deepak Agrawal, Don C. Rockey
Page :153
Lawrence J. Brandt
Page :154-157
Katherine J. Kim, David Victor, Ellen Stein, Ali Kord Valeshabad, Payal Saxena, Vikesh K. Singh, Anne Marie Lennon, John O. Clarke, Mouen A. Khashab
Page :158
Farzan Fahrtash-Bahin, Bronte A. Holt, Vanoo Jayasekeran, Stephen J. Williams, Rebecca Sonson, Michael J. Bourke
Page :164-165
Tomonori Matsumoto, Naoto Shimeno, Yukihiro Imai, Tetsuro Inokuma
Page :165-167
Mohammad Al-Haddad, Harvey M. Cramer, Talia Muram, Xiaoyan Wang, Henry A. Pitt
Page :167-168
Seth Sweetser, Todd H. Baron
Page :169-175
Sarah Leblanc, Ariane Vienne, Marion Dhooge, Romain Coriat, Stanislas Chaussade, Frédéric Prat
Page :175-178
Payal Saxena, Vikesh K. Singh, Anne Marie Lennon, Patrick I. Okolo, Anthony N. Kalloo, Mouen A. Khashab
Page :179-183
Abdullah Alatawi, Sarah Leblanc, Ariane Vienne, Carlos Alberto Pratico, Marianne Gaudric, Jean-Christophe Duchmann, Jean Boyer, Luigi Mangialavori, Stanislas Chaussade, Fréderic Prat
Page :183-187
Jean-Christophe Valats, Natalie Funakoshi, Paul Bauret, Bertrand Hanslik, Anne Dorandeu, Dimitri Christophorou, Michael Bismuth, Pierre Blanc
Page :188-189
Adrian S?ftoiu, Peter Vilmann
Page :189-190
Muhammad F. Dawwas, Hatim Taha, John S. Leeds, Manu K. Nayar, Kofi W. Oppong
Page :191
Palaniappan Manickam, Ziad Kanaan
Page :191
Parambir S. Dulai, Stuart R. Gordon, Richard I. Rothstein
Page :192
Alberto Baptista, Jacobo Dib, María A. Guzmán, José Di Giorgio, José R. Soto
Page :192
Emo E. van Halsema, Jeanin E. van Hooft
Page :193-195
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.