Vol 83 - N° 1 - janvier 2016
P. A1-A30© Elsevier Masson SAS
Page :A2
Page :A11
Page :A14
Page :A16
Page :A18
Page :A22
Page :A23
Page :1
Douglas O. Faigel
Page :2
Michael B. Wallace
Page :3-16
ASGE Standards of Practice Committee, Ruben D. Acosta, Neena S. Abraham, Vinay Chandrasekhara, Krishnavel V. Chathadi, Dayna S. Early, Mohamad A. Eloubeidi, John A. Evans, Ashley L. Faulx, Deborah A. Fisher, Lisa Fonkalsrud, Joo Ha Hwang, Mouen A. Khashab, Jenifer R. Lightdale, V. Raman Muthusamy, Shabana F. Pasha, John R. Saltzman, Aasma Shaukat, Amandeep K. Shergill, Amy Wang, Brooks D. Cash, John M. DeWitt
Page :17-28
ASGE Standards of Practice Committee, Mohamad A. Eloubeidi, G. Anton Decker, Vinay Chandrasekhara, Krishnavel V. Chathadi, Dayna S. Early, John A. Evans, Robert D. Fanelli, Deborah A. Fisher, Kimberly Foley, Joo Ha Hwang, Terry L. Jue, Jenifer R. Lightdale, Shabana F. Pasha, John R. Saltzman, Ravi Sharaf, Amandeep K. Shergill, Brooks D. Cash, John M. DeWitt
Page :29-36
ASGE Technology Committee, Michael A. Manfredi, Shailendra S. Chauhan, Brintha K. Enestvedt, Larissa L. Fujii-Lau, Vani Konda, Joo Ha Hwang, Simon K. Lo, John T. Maple, Faris M. Murad, Rahul Pannala, Karen L. Woods, Subhas Banerjee
Page :37-47
Tae Hyeon Kim, Jin Hong Kim, Dong Wan Seo, Dong Ki Lee, Nageshwar D. Reddy, Rungsun Rerknimitr, Thawee Ratanachu-Ek, Christopher J.L. Khor, Takao Itoi, Ichiro Yasuda, Hiroyuki Isayama, James Y.W. Lau, Hsiu-Po Wang, Hoi-Hung Chan, Bing Hu, Richard A. Kozarek, Todd H. Baron
Page :48-56
Michael Camilleri, Andres Acosta
Page :57
Marina Coletta, Sarmed S. Sami, Arun Nachiappan, Mirella Fraquelli, Giovanni Casazza, Krish Ragunath
Page :68-77
Farzan F. Bahin, Mahesh Jayanna, Luke F. Hourigan, Reginald V. Lord, David Whiteman, Stephen J. Williams, Eric Y.T. Lee, Michael J. Bourke
Page :78-79
Irving Waxman, Vani J.A. Konda
Page :80-88
Anne-Fré Swager, David F. Boerwinkel, Daniel M. de Bruin, Dirk J. Faber, Ton G. van Leeuwen, Bas L. Weusten, Sybren L. Meijer, Jacques J. Bergman, Wouter L. Curvers
Page :89-91
Prasad G. Iyer
Page :92-100
Evan S. Dellon, Jessica H. Gebhart, Leana L. Higgins, Kelly E. Hathorn, John T. Woosley, Nicholas J. Shaheen
Page :101-106
Claire Daly, Prashanth Vennalaganti, Samad Soudagar, Ben Hornung, Prateek Sharma, Neil Gupta
Page :107-114
Dongsuk Shin, Michelle H. Lee, Alexandros D. Polydorides, Mark C. Pierce, Peter M. Vila, Neil D. Parikh, Daniel G. Rosen, Sharmila Anandasabapathy, Rebecca R. Richards-Kortum
Page :115-116
Wouter L. Curvers, Jacques J. Bergman
Page :117-125
Mouen A. Khashab, Mohamad El Zein, Vivek Kumbhari, Sepideh Besharati, Saowanee Ngamruengphong, Ahmed Messallam, Ahmed Abdelgalil, Payal Saxena, Alan H. Tieu, Shreya Raja, Ellen Stein, Sameer Dhalla, Patricia Garcia, Vikesh K. Singh, Pankaj J. Pasricha, Anthony N. Kalloo, John O. Clarke
Page :126-128
Davinderbir Pannu, Jeffrey D. White, Peter V. Draganov
Page :129-136
Dennis M. Jensen, Gordon V. Ohning, Thomas O.G. Kovacs, Kevin A. Ghassemi, Rome Jutabha, Gareth S. Dulai, Gustavo A. Machicado
Page :137-139
Jennifer Nayor, John R. Saltzman
Page :140-148
Martin Jones, Zongli Zheng, Jessica Wang, Jonathan Dudley, Emily Albanese, Abdurrahman Kadayifci, Dora Dias-Santagata, Long Le, William R. Brugge, Carlos Fernandez-del Castillo, Mari Mino-Kenudson, A. John Iafrate, Martha B. Pitman
Page :149-150
Ferga C. Gleeson, Michael J. Levy
Page :151-157
Mohamed O. Othman, Richard Guerrero, Sherif Elhanafi, Brian Davis, Jesus Hernandez, Jennifer Houle, Indika Mallawaarachchi, Alok Kumar Dwivedi, Marc J. Zuckerman
Page :158-159
Douglas G. Adler
Page :160-165
Bronte A. Holt, Robert Hawes, Muhammad Hasan, Ashley Canipe, Benjamin Tharian, Udayakumar Navaneethan, Shyam Varadarajulu
Page :166-171
Douglas K. Rex, Ryan Clodfelter, Farrah Rahmani, Hala Fatima, Toyia N. James-Stevenson, John C. Tang, Hak Nam Kim, Lee McHenry, Charles J. Kahi, Nicholas A. Rogers, Debra J. Helper, Sashidhar V. Sagi, William R. Kessler, John M. Wo, Monika Fischer, Paul Y. Kwo
Page :172-178
Madhusudhan R. Sanaka, Tarun Rai, Udaykumar Navaneethan, Tushar D. Gohel, Amareshwar Podugu, Prashanthi N. Thota, Rocio Lopez, Ravi P. Kiran, Carol A. Burke
Page :179-181
Jeffrey K. Lee, Douglas A. Corley
Page :182-187
Noa Rozendorn, Eyal Klang, Adi Lahat, Doron Yablecovitch, Uri Kopylov, Abraham Eliakim, Shomron Ben-Horin, Michal Marianne Amitai
Page :188
Paul Rutgeerts, Walter Reinisch, Jean-Frederic Colombel, William J. Sandborn, Geert D’Haens, Joel Petersson, Qian Zhou, Annalisa Iezzi, Roopal B. Thakkar
Page :198-200
Sunanda V. Kane, Ashwin N. Ananthakrishnan
Page :201-208
Bradley W. Anderson, Thomas C. Smyrk, Kari S. Anderson, Douglas W. Mahoney, Mary E. Devens, Seth R. Sweetser, John B. Kisiel, David A. Ahlquist
Page :209-211
Michael J. Shaw, Aasma Shaukat
Page :212
James Buxbaum, Karthik Ravi, William Ross, Brian Weston, Prasad G. Iyer, Amit Rastogi, Michael B. Wallace
Page :213-222
Silvia Sanduleanu, Tonya Kaltenbach, Alan Barkun, Robert P. McCabe, Fernando Velayos, Michael F. Picco, Loren Laine, Roy Soetikno, Kenneth R. McQuaid
Page :223-228
Jiaoyang Lu, Taotao Jiao, Yanmei Li, Minhua Zheng, Xuefeng Lu
Page :229-233
Paolo Cantù, Ilaria Parzanese, Ernesto Melada, Giorgio Rossi, Dario Conte, Roberto Penagini
Page :234-239
Sundeep Lakhtakia, Mohan Ramchandani, Domenico Galasso, Rajesh Gupta, Sushma Venugopal, Rakesh Kalpala, D. Nageshwar Reddy
Page :240-247
Yun Nah Lee, Jong Ho Moon, Hyun Jong Choi, Hyun Su Kim, Moon Han Choi, Dong Choon Kim, Tae Hoon Lee, Sang-Woo Cha, Young Deok Cho, Sang-Heum Park
Page :248-249
Yuyong Tan, Hongyi Zhu, Liang Lv, Deliang Liu
Page :249-250
James H. Tabibian, Cadman L. Leggett, Barham K. Abu Dayyeh, Navtej S. Buttar
Page :251
Hugo Uchima, Monder Abu-Suboh, Alfredo Mata, Marta Cruz, Jorge Espinos
Page :252
V.G. Mohan Prasad, Madhura Prasad, Praveen M. Patil, U. Vishwanath Reddy, Shujaath M. Asif, K.V.K.S.N. Murthy, Mithra Prasad, Vadamalainathan Govindasamy, Gokul Kruba Shanker
Page :253
Darina Kohoutova, Bjorn J. Rembacken
Page :254
Amy Tyberg, Steven Zerbo, Marc Barthet, Reem Z. Sharaiha, Michel Kahaleh
Page :255
Alexander Lee, Christopher C. Thompson
Page :255-256
Theodore W. James, Robert A. Moran, Saowanee Ngamruengphong, Vikesh K. Singh
Page :256-257
Nicolas Musquer, Elodie Ménager Tabourel, Dominique Luet, François-Xavier Caroli-Bosc, Elodie Métivier Cesbron
Page :257-258
Yamel Flores Carmona, Amy Tyberg, Steven Zerbo, Reem Sharaiha, Michel Kahaleh
Page :258-259
Kevin Chow, Jack Leya, Neil Gupta
Page :259-260
Andrea Anderloni, Alberto Murino, Manol Jovani, Serena Battista, Alessandro Repici
Page :260-261
Tomohiro Iwai, Kinichi Hotta, Kenichiro Imai, Yuichiro Yamaguchi, Sayo Ito, Noboru Kawata, Masaki Tanaka, Naomi Kakushima, Kohei Takizawa, Hiroyuki Matsubayashi, Hiroyuki Ono
Page :261-262
Alessandro Pezzoli, Nadia Fusetti, Elena Pizzo
Page :262-263
Hirohito Mori, Noriko Nishiyama, Hideki Kobara, Shintaro Fujihara, Nobuya Kobayashi, Takashi Nagase, Seiki Kobayashi, Yoshitaka Ikeda, Tsutomu Masaki
Page :264-265
Mariana Costa, Diogo Libânio, Jorge Lage, Mário Dinis-Ribeiro, Pedro Pimentel-Nunes
Page :265-267
Douglas G. Adler, Kyle Eliason
Page :267-268
Keisuke Kawasaki, Shotaro Nakamura, Koichi Kurahara, Shunichi Yanai, Yumi Oshiro, Takayuki Matsumoto
Page :269-270
Masashi Fukushima, Hiroki Kitamoto, Tetsuro Inokuma, Yukihiro Imai
Page :271
Nicola Muscatiello, Antonio Facciorusso
Page :271-273
Louis M. Wong Kee Song, Christopher J. Gostout, Robert D. Tucker, Marcia L. Morris, William J. Bowers, Edward L. Cattau
Page :273
Nicholas G. Burgess, Farzan F. Bahin, Michael J. Bourke
Page :274
Jesse Lachter
Page :274
John A. Evans, John M. DeWitt
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.