Vol 134 - N° 2 - février 1999
P. 127-254© Elsevier Masson SAS
Page :127-129
Kathleen A. Kennedy, Jon E. Tyson
Page :130-131
John D. Lantos
Page :132-133
Joel E. Lavine
Page :134-135
Alessio Fasano
Page :136-138
Ronald J. Sokol
Page :138-140
Julie Blatt, Marsha Davenport, Andrew Olshan
Page :140-142
Robert P. Schwartz
Page :142-143
Pasquale Accardo
Page :144-150
Elina Saarenmaa, Pirkko Huttunen, Juhani Leppäluoto, Olli Meretoja, Vineta Fellman
Page :151-155
Barbara Schmidt, Pat Gillie, Chris Caco, Jeremy Roberts, Robin Roberts
Page :156-159
George E. Hardart, James C. Fackler
Page :166-171
Riccardo Troncone, Francesco Maurano, Mauro Rossi, Maria Micillo, Luigi Greco, Renata Auricchio, Giuliana Salerno, Francesco Salvatore, Lucia Sacchetti
Page :172-177
Dror Wasserman, Babette S. Zemel, Andrew E. Mulberg, Helen A. John, Karan M. Emerick, Elizabeth M. Barden, David A. Piccoli, Virginia A. Stallings
Page :178-184
Aiko Suminoe, Akinobu Matsuzaki, Naoko Kinukawa, Takeshi Inamitsu, Tatsuro Tajiri, Sachiyo Suita, Toshiro Hara
Page :185-189
Hans H. Bode, Scott A. Rivkees, David M. Cowley, Karen Pardy, Sandra Johnson
Page :190-192
Karen Oerter Klein, Veronica Mericq, Jacquelyn M. Brown-Dawson, Kimberly A. Larmore, Patricia Cabezas, Amanda Cortinez
Page :193-198
Edward M. Moss, Mark L. Batshaw, Cynthia B. Solot, Marsha Gerdes, Donna M. McDonald-McGinn, Deborah A. Driscoll, Beverly S. Emanuel, Elaine H. Zackai, Paul P. Wang
Page :199-205
Christoph Male, Klaus Lechner, Sabine Eichinger, Paul A. Kyrle, Stylianos Kapiotis, Hans Wank, Alexandra Kaider, Ingrid Pabinger
Page :206-214
Gail E. Herman, Milton Finegold, Wei Zhao, Beatrice de Gouyon, Aida Metzenberg
Page :215-221
Aaron L. Carrel, Susan E. Myers, Barbara Y. Whitman, David B. Allen
Page :222-225
Urs Eiholzer, Werner F. Blum, Luciano Molinari
Page :226-228
Steven P. Miller, Patricia Riley, Michael I. Shevell
Page :229-232
J. Sentipal-Walerius, S. Dollberg, F. Mimouni, J. Doyle, C. Gilmour
Page :233-235
Robert J. Tagher, Robert Baumann, Nirmala Desai
Page :236-239
Michel Duval, Odile Fenneteau, Valérie Doireau, Albert Faye, Dominique Emilie, Patricia Yotnda, Jean-Claude Drapier, Nicole Schlegel, Ghislaine Sterkers, Hélène Ogier de Baulny, Etienne Vilmer
Page :240-244
Markus Schuelke, Ertan Mayatepek, Markus Inter, Michael Becker, Ernst Pfeiffer, Astrid Speer, Christoph Hübner, Barbara Finckh
Page :245-247
Kenneth Maclean, Meredith J. Wilson
Page :248
Jennifer Reikes Willert, James Feusner, J.Bruce Beckwith
Page :249
S.A. Zamora, A. Maret
Page :249-250
Kozo Yasui, Atsushi Komiyama, Yasuki Takabayashi, Satoshi Fujikawa
Page :251
Ronald M. Ferdman, Joseph A. Church
Page :252
Takahiro Hayakawa, Tadashi Hayashidera, Kozo Yoneda, Shohei Kagawa, Takashi Kusunoki
Page :252-253
H. Narchi, Naji Kulaylat
Page :253
Paul L.P. Brand, Ruurd-Jan Roorda
Page :253-254
A. Rushdy, M. Ramsay, P.T. Heath, H.J. Azzopardi, M.P.E. Slack
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.