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Neuroimaging-Based Deep Learning Applications for Lesion Detection and Predicting the Outcome Following Epilepsy Surgery - 01/04/26

Doi : 10.1016/j.nic.2025.10.002 
Merran R. Courtney, MD, FRACP a, b, , Benjamin Sinclair, PhD a, b, Benjamin H. Brinkmann, PhD, FACNS c, d, Lucy Vivash, PhD a, b
a Department of Neuroscience, School of Translational Medicine, Monash University, 99 Commercial Road, Melbourne, VIC 3004, Australia 
b Department of Neurology, Alfred Health, Melbourne, Victoria, Australia 
c Department of Neurology, Mayo Clinic, 200 First Street SW, Rochester, MN 55905, USA 
d Department of Physiology and Biomedical Engineering, Mayo Clinic, Rochester, MN, USA 

Corresponding author. Department of Neuroscience, School of Translational Medicine, Monash University, 99 Commercial Road, Melbourne, VIC 3004, Australia. Department of Neuroscience School of Translational Medicine Monash University 99 Commercial Road Melbourne VIC 3004 Australia

Résumé

Neuroimaging studies are essential for evaluating patients with drug-resistant focal epilepsy and determining their candidacy for epilepsy surgery. The past decade has seen the emergence of neuroimaging-based deep learning models, which have been developed to both detect epileptogenic lesions on MR imaging and predict post-surgical seizure outcome. Large, multi-center studies have demonstrated promise for epileptogenic lesion detection; however, neuroimaging-based surgical outcome prediction models remain exploratory. Translation of such models into routine epilepsy surgery clinical workflows will require transparent, interpretable, and prospectively validated model designs.

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Keywords : Drug resistant epilepsy, Machine learning, Deep learning, Lesion detection, Surgical outcome


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Vol 36 - N° 2

P. 315-333 - mai 2026 Retour au numéro
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  • 7 Tesla MR Imaging for Evaluation of Epilepsy
  • Kirk M. Welker, Doksu Moon, Andrew J. Fagan, Brian J. Burkett
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  • Brian J. Burkett, Benjamin H. Brinkmann, Derek R. Johnson, Bradley J. Kemp, Steven A. Messina, Robert J. Witte

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