During the last decade, amazing advances in microelectronics have led to the development of large infrared focal plane arrays (IRFPAs) with a high density of pixels per square centimetre. Bispectral and soon multispectral detectors are now under development. In order to follow or even anticipate this race for spatial and spectral resolution, new techniques of characterisation have been developed in our laboratory, allowing the measurement of the spatial and spectral responses of a hundred of thousands pixels forming the IRFPA. Thus, a test bench for the measurement of hyperspectral cartographies has been realised. The principle of measurement and experimental results will be presented. For the measurement of spatial responses, the projection of targets that illuminate the entire surface of the IRFPA and contain sub-pixel details is required in order to extract the line (or spot) spread function of every pixel. For this, non-imaging techniques of projection based on the self-imaging property of periodic targets have been elaborated. The first results and the potential of this original approach will be discussed. To cite this article: N. Guérineau et al., C. R. Physique 4 (2003).

Les progrès fulgurants en microtechnologie durant la dernière décennie ont abouti à la réalisation de plans focaux infrarouge (PFI) de grand format, intégrant une importante densité de détecteurs au centimètre carré. Prochainement, les grands plans focaux bispectraux ou multispectraux verront le jour. Pour suivre voire anticiper cette course à la résolution spatiale et spectrale, le laboratoire de caractérisation des détecteurs de l'Onéra a développé de nouvelles techniques de mesures permettant d'extraire les réponses spatiales et spectrales des centaines de milliers de pixels formant le PFI. Ainsi, un banc de mesure de cartographies hyperspectrales a été mis au point, dont le principe de mesure sera présenté. On montrera des exemples de mesures obtenues avec ce banc de test et les paramètres utiles que l'on peut en extraire. Pour les caractérisations en réponse spatiale, la projection de mires couvrant toute la surface du PFI et contenant des détails sub-pixels est nécessaire pour extraire les fonctions d'étalement de chaque détecteur élémentaire. Pour cela, des techniques de projection sans optiques, reposant sur les propriétés auto-imageantes de mires périodiques ont été élaborées. Les premiers résultats obtenus et les potentialités de cette approche originale seront discutés. Pour citer cet article : N. Guérineau et al., C. R. Physique 4 (2003).