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Plant-pathogen interactions: will the understanding of common mechanisms lead to the unification of concepts? - 01/01/05

Doi : 10.1016/j.crvi.2005.07.002 
Philippe Reignault , Michel Sancholle
Mycologie-Phytopathologie-Environnement', université du Littoral-Côte dʼOpale, BP 699, 62228 Calais cedex, France 

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Abstract

Plant-pathogen interactions are still classically described using concepts that make a distinction between qualitative and quantitative aspects linked to these concepts. This article first describes these aspects, using the terminology associated with them. It then presents some recent experimental observations that demonstrate that such concepts share either common or closely related mechanisms at the cellular and molecular levels. The emergence of a more global vision and understanding of the interactions between plants and their parasites is discussed. To cite this article: P. Reignault, M. Sancholle, C. R. Biologies 328 (2005).

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Résumé

Les interactions phytopathogènes sont encore classiquement décrites sur la base de concepts distinguant des aspects qualitatifs et quantitatifs liés à ces interactions. Après avoir rappelé ces différents aspects ainsi que la terminologie qui leur est associée, cet article présente un certain nombre de résultats expérimentaux récents illustrant le fait que des concepts distincts partagent en fait, aux niveaux cellulaire et moléculaire, des mécanismes sinon communs, souvent très proches. Lʼémergence dʼune vision et dʼune compréhension plus globales des interactions entre les plantes et leurs parasites est discutée. Pour citer cet article : P. Reignault, M. Sancholle, C. R. Biologies 328 (2005).

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Keywords : Quantitative resistance, Qualitative resistance, Nonhost resistance, Gene-for-gene relationship, Basic compatibility, Recognition, Elicitation

Mots-clés : Résistance quantitative, Résistance qualitative, Résistance non-hôte, Relation gène pour gène, Compatibilité de base, Reconnaissance, Élicitation


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Vol 328 - N° 9

P. 821-833 - septembre 2005 Retour au numéro
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