X-ray powder diffraction (XRPD) has been employed in the last years as an active structural tool, well beyond its classical usage in qualitative, quantitative and microstructural analyses. The complexity of the materials studied by this method has steadily grown, allowing the full structural characterization of molecular systems, of organic and organometallic nature. Here we emphasize that, when dealing with such moderately complex molecular materials, the power of XRPD can be enhanced not only by increasing the radiation flux or the instrumental resolution, but also (and cheaply) by using additional (experimental or computational) information. To cite this article: N. Masciocchi, A. Sironi, C. R. Chimie 8 (2005).

La diffraction des rayons X sur poudre (XRPD) a été employée ces dernières années comme outil structural, au-delà de ses utilisations classiques dans les analyses quantitatives, qualitatives et microstructurales. La complexité des matériaux étudiés par cette méthode a crû de manière constante, permettant la caractérisation structurale complète de systèmes moléculaires de nature organique ou organométallique. Ici, nous faisons ressortir qu'en utilisant des matériaux moléculaires modérément complexes, la capacité de la diffraction des rayons X sur poudre peut être augmentée non seulement en accroissant le flux de radiation ou la résolution instrumentale, mais aussi (et à moindre coût) en utilisant des informations complémentaires de nature expérimentale ou théorique. Pour citer cet article: N. Masciocchi, A. Sironi, C. R. Chimie 8 (2005).