S'abonner

Surveillance of multi-drug resistant Pseudomonas aeruginosa in an urban tertiary-care teaching hospital - 24/08/11

Doi : 10.1016/j.jhin.2004.03.001 
R Jung , D.N Fish, M.D Obritsch, R MacLaren
Antimicrobial Research Laboratory, Department of Clinical Pharmacy, School of Pharmacy, University of Colorado Health Sciences Center, 4200 East Ninth Avenue, Campus Box C-238 Denver, CO 80262, USA 

Corresponding author. Tel.: +1-303-315-2664; fax: +1-303-315-4630

Abstract

Antimicrobial resistance in Pseudomonas aeruginosa is a serious clinical problem. To determine the incidence of multi-drug resistant P. aeruginosa, resistance rates of P. aeruginosa clinical isolates against commonly used antibiotics were evaluated for the period 1998 to 2002. Multi-drug resistance was defined as resistance to at least three of the four drugs, ceftazidime, imipenem, ciprofloxacin, and tobramycin. Resistance to most anti-pseudomonal agents has increased by >20% over the five-year period, with dramatic increases observed with fluoroquinolones, tobramycin, and imipenem (resistance increased by 34–37%). In 1998, 78% of isolates were susceptible to all four anti-pseudomonal agents and no isolate was considered multi-drug resistant. However, in 2002, only 27% of isolates were sensitive to all four of the drugs and 32% were considered multi-drug resistant. Multi-drug resistance in individual institutions may be significantly higher than rates reported in nationwide surveillance studies and may more accurately reflect the true magnitude of local resistance problems. On-going surveillance within individual institutions is critical for the selection of appropriate empiric antimicrobial therapy.

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Keywords : Surveillance, Resistance, Pseudomonas aeruginosa, Multi-drug resistance, Antibiotics


Plan


© 2004  The Hospital Infection Society. Publié par Elsevier Masson SAS. Tous droits réservés.
Ajouter à ma bibliothèque Retirer de ma bibliothèque Imprimer
Export

    Export citations

  • Fichier

  • Contenu

Vol 57 - N° 2

P. 105-111 - juin 2004 Retour au numéro
Article précédent Article précédent
  • Bacterial adaptation and resistance to antiseptics, disinfectants and preservatives is not a new phenomenon
  • A.D Russell
| Article suivant Article suivant
  • Risk factors and clinical outcomes of nosocomial multi-drug resistant Pseudomonas aeruginosa infections
  • B Cao, H Wang, H Sun, Y Zhu, M Chen

Bienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
L’accès au texte intégral de cet article nécessite un abonnement.

Déjà abonné à cette revue ?

Elsevier s'engage à rendre ses eBooks accessibles et à se conformer aux lois applicables. Compte tenu de notre vaste bibliothèque de titres, il existe des cas où rendre un livre électronique entièrement accessible présente des défis uniques et l'inclusion de fonctionnalités complètes pourrait transformer sa nature au point de ne plus servir son objectif principal ou d'entraîner un fardeau disproportionné pour l'éditeur. Par conséquent, l'accessibilité de cet eBook peut être limitée. Voir plus

Mon compte


Plateformes Elsevier Masson

Déclaration CNIL

EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.

En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.


Tout le contenu de ce site: Copyright © 2025 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.