Vol 101 - N° 12 - décembre 2020
P. 763-844©Société française de radiologie
Pagina :i
Pagina :iii
Pagina :763-764
G. Chassagnon, A. Dohan
Pagina :765-770
Takeshi Nakaura, Toru Higaki, Kazuo Awai, Osamu Ikeda, Yasuyuki Yamashita
Pagina :771-781
S.P. Rowe, A.R. Meyer, M.A. Gorin, L.C. Chu, E.K. Fishman
Pagina :783-788
N. Lassau, I. Bousaid, E. Chouzenoux, J.P. Lamarque, B. Charmettant, M. Azoulay, F. Cotton, A. Khalil, O. Lucidarme, F. Pigneur, Y. Benaceur, A. Sadate, M. Lederlin, F. Laurent, G. Chassagnon, O. Ernst, G. Ferreti, Y. Diascorn, P.Y. Brillet, M. Creze, L. Cassagnes, C. Caramella, A. Loubet, A. Dallongeville, N. Abassebay, M. Ohana, N. Banaste, M. Cadi, J. Behr, L. Boussel, L. Fournier, M. Zins, J.P. Beregi, A. Luciani, A. Cotten, J.F. Meder
Pagina :789-794
P. Blanc-Durand, J.-B. Schiratti, K. Schutte, P. Jehanno, P. Herent, F. Pigneur, O. Lucidarme, Y. Benaceur, A. Sadate, A. Luciani, O. Ernst, A. Rouchaud, M. Creze, A. Dallongeville, N. Banaste, M. Cadi, I. Bousaid, N. Lassau, S. Jegou
Pagina :795-802
P. Roca, A. Attye, L. Colas, A. Tucholka, P. Rubini, S. Cackowski, J. Ding, J.-F. Budzik, F. Renard, S. Doyle, E.L. Barbier, I. Bousaid, R. Casey, S. Vukusic, N. Lassau, S. Verclytte, F. Cotton, OFSEP Investigators, Steering Committee, Investigators, Imaging group, B. Brochet, R. Casey, F. Cotton, J. De Sèze, P. Douek, F. Guillemin, D. Laplaud, C. Lebrun-Frenay, L. Mansuy, T. Moreau, J. Olaiz, J. Pelletier, C. Rigaud-Bully, B. Stankoff, S. Vukusic, R. Marignier, M. Debouverie, G. Edan, J. Ciron, A. Ruet, N. Collongues, C. Lubetzki, P. Vermersch, P. Labauge, G. Defer, M. Cohen, A. Fromont, S. Wiertlewsky, E. Berger, P. Clavelou, B. Audoin, C. Giannesini, O. Gout, E. Thouvenot, O. Heinzlef, A. Al-Khedr, B. Bourre, O. Casez, P. Cabre, A. Montcuquet, A. Créange, J.-P. Camdessanché, J. Faure, A. Maurousset, I. Patry, K. Hankiewicz, C. Pottier, N. Maubeuge, C. Labeyrie, C. Nifle, R. Ameli, R. Anxionnat, A. Attye, E. Bannier, C. Barillot, D. Ben Salem, M.-P. Boncoeur-Martel, F. Bonneville, C. Boutet, J.-C. Brisset, F. Cervenanski, B. Claise, O. Commowick, J.-M. Constans, P. Dardel, H. Desal, Vincent Dousset, F. Durand-Dubief, J.-C. Ferre, E. Gerardin, T. Glattard, S. Grand, T. Grenier, R. Guillevin, C. Guttmann, A. Krainik, S. Kremer, S. Lion, N. Menjot de Champfleur, L. Mondot, O. Outteryck, N. Pyatigorskaya, J.-P. Pruvo, S. Rabaste, J.-P. Ranjeva, J.-A. Roch, J.C. Sadik, D. Sappey-Marinier, J. Savatovsky, J.-Y. Tanguy, A. Tourbah, T. Tourdias
Pagina :803-810
D. Blanc, V. Racine, A. Khalil, M. Deloche, J.-A. Broyelle, I. Hammouamri, E. Sinitambirivoutin, M. Fiammante, E. Verdier, T. Besson, A. Sadate, M. Lederlin, F. Laurent, G. Chassagnon, G. Ferretti, Y. Diascorn, P.-Y. Brillet, Lucie Cassagnes, C. Caramella, A. Loubet, N. Abassebay, P. Cuingnet, M. Ohana, J. Behr, A. Ginzac, H. Veyssiere, X. Durando, I. Bousaïd, N. Lassau, J. Brehant
Pagina :811-819
M. Le Boulc’h, A. Bekhouche, E. Kermarrec, A. Milon, C. Abdel Wahab, S. Zilberman, N. Chabbert-Buffet, I. Thomassin-Naggara
Pagina :821-830
A. Azoulay, J. Cros, M.-P. Vullierme, L. de Mestier, A. Couvelard, O. Hentic, P. Ruszniewski, A. Sauvanet, V. Vilgrain, M. Ronot
Pagina :831-837
L. Cao, Z. Wang, T. Gong, J. Wang, J. Liu, L. Jin, Q. Yuan
Pagina :839-841
R. Aldhaheri, M. Barat, A. Dohan, S. Gaujoux, R. Coriat, B. Terris, P. Soyer
Pagina :843-844
L. Rocher, G. Perlemuter, H. Tranchart
EM-CONSULTE.COM è registrato presso la CNIL, dichiarazione n. 1286925.
Ai sensi della legge n. 78-17 del 6 gennaio 1978 sull'informatica, sui file e sulle libertà, Lei puo' esercitare i diritti di opposizione (art.26 della legge), di accesso (art.34 a 38 Legge), e di rettifica (art.36 della legge) per i dati che La riguardano. Lei puo' cosi chiedere che siano rettificati, compeltati, chiariti, aggiornati o cancellati i suoi dati personali inesati, incompleti, equivoci, obsoleti o la cui raccolta o di uso o di conservazione sono vietati.
Le informazioni relative ai visitatori del nostro sito, compresa la loro identità, sono confidenziali.
Il responsabile del sito si impegna sull'onore a rispettare le condizioni legali di confidenzialità applicabili in Francia e a non divulgare tali informazioni a terzi.
Tutto il contenuto di questo sito: Copyright © 2026 Elsevier, i suoi licenziatari e contributori. Tutti i diritti sono riservati. Inclusi diritti per estrazione di testo e di dati, addestramento dell’intelligenza artificiale, e tecnologie simili. Per tutto il contenuto ‘open access’ sono applicati i termini della licenza Creative Commons.