Vol 82 - N° 4 - octobre 2015
P. A1-A26© Elsevier Masson SAS
Pagina :A2
Pagina :A9
Pagina :A12
Pagina :A14
Pagina :A17
Pagina :A19
Pagina :593-599
ASGE Standards of Practice Committee, Amy Wang, Aasma Shaukat, Ruben D. Acosta, David H. Bruining, Vinay Chandrasekhara, Krishnavel V. Chathadi, Mohamad A. Eloubeidi, Robert D. Fanelli, Ashley L. Faulx, Lisa Fonkalsrud, Suryakanth R. Gurudu, Loralee R. Kelsey, Mouen A. Khashab, Shivangi Kothari, Jenifer R. Lightdale, V. Raman Muthusamy, Shabana Pasha, John R. Saltzman, Julie Yang, Brooks D. Cash, John M. DeWitt
Pagina :600-607
ASGE Standards of Practice Committee, Mouen A. Khashab, Shabana F. Pasha, V. Raman Muthusamy, Ruben D. Acosta, David H. Bruining, Vinay Chandrasekhara, Krishnavel V. Chathadi, Mohamad A. Eloubeidi, Robert D. Fanelli, Ashley L. Faulx, Lisa Fonkalsrud, Suryakanth R. Gurudu, Loralee R. Kelsey, Shivangi Kothari, Jenifer R. Lightdale, John R. Saltzman, Aasma Shaukat, Amy Wang, Julie Yang, Brooks D. Cash, John M. DeWitt
Pagina :608
Udayakumar Navaneethan, Muhammad K. Hasan, Vennisvasanth Lourdusamy, Basile Njei, Shyam Varadarajulu, Robert H. Hawes
Pagina :615-617
Richard A. Kozarek
Pagina :618
Tessa Verlaan, Rogier P. Voermans, Mark I. van Berge Henegouwen, Willem A. Bemelman, Paul Fockens
Pagina :629-630
Stavros N. Stavropoulos, David Friedel
Pagina :631-640
Herbert C. Wolfsen, Prateek Sharma, Michael B. Wallace, Cadman Leggett, Guillermo Tearney, Kenneth K. Wang
Pagina :641-649
Melanie Machiels, Jeanin van Hooft, Peng Jin, Mark I. van Berge Henegouwen, Hanneke M. van Laarhoven, Tanja Alderliesten, Maarten C. Hulshof
Pagina :650-657
Vinay Dhir, Anthony Yuen Bin Teoh, Mukta Bapat, Suryaprakash Bhandari, Nitin Joshi, Amit Maydeo
Pagina :658-659
Amy Tyberg, Michel Kahaleh
Pagina :660-665
Rongchun Zhang, Hui Luo, Yanglin Pan, Lina Zhao, Junqiang Dong, Zhiguo Liu, Xiangping Wang, Qin Tao, Guohua Lu, Xuegang Guo
Pagina :666-667
Jun-Ho Choi, Dong-Wan Seo
Pagina :668-675
Felippe O. Marcondes, Katie M. Dean, Robert E. Schoen, Daniel A. Leffler, Sherri Rose, Michele Morris, Ateev Mehrotra
Pagina :676-682
Heitham Abdul-Baki, Robert E. Schoen, Katie Dean, Sherri Rose, Daniel A. Leffler, Eliathamby Kuganeswaran, Michele Morris, David Carrell, Ateev Mehrotra
Pagina :683-685
David Lieberman, Ranjan Mascarenhas
Pagina :686-692
Akira Horiuchi, Kenji Hosoi, Masashi Kajiyama, Naoki Tanaka, Kenji Sano, David Y. Graham
Pagina :693-696
David G. Hewett
Pagina :697
Takeaki Matsuzawa, Hideyuki Ishida, Shuntaro Yoshida, Hiroyuki Isayama, Toshio Kuwai, Iruru Maetani, Mamoru Shimada, Tomonori Yamada, Shuji Saito, Masafumi Tomita, Koichi Koizumi, Nobuto Hirata, Takashi Sasaki, Toshiyuki Enomoto, Yoshihisa Saida
Pagina :708
Rupert W.L. Leong, Jonathan Perry, Brayden Campbell, Jenn Koo, Ian B. Turner, Crispin Corte, Ian K. Fok
Pagina :715-717
Alan Moss, Nam Viet Pham
Pagina :718
James Buxbaum, Karthik Ravi, William Ross, Brian Weston, Prasad G. Iyer, David Schwartz, Michael B. Wallace
Pagina :719-723
Chung-Hwan Jun, Chang-Hwan Park, Jin Jeon, In-Hyung Park, Ho-Jun Lee, Seon-Young Park, Hyun-Soo Kim, Sung-Kyu Choi, Jong-Sun Rew
Pagina :724-727
John A. Martin
Pagina :728-733
Arthur Schmidt, Benjamin Meier, Oscar Cahyadi, Karel Caca
Pagina :734-738
Federico Iacopini, Yutaka Saito, Masayoshi Yamada, Cristina Grossi, Patrizia Rigato, Guido Costamagna, Takuji Gotoda, Takahisa Matsuda, Agostino Scozzarro
Pagina :739-741
Ralf Kiesslich, Markus F. Neurath
Pagina :742
Danny Cheriyan, Cynthia Guy, Rebecca Burbridge
Pagina :743
Moinak Sen Sarma, Surender Kumar Yachha, Anshu Srivastava, Ujjal Poddar
Pagina :744
Shaham Mumtaz, Anoop Appannagari, Neil Gupta
Pagina :745
Mouen A. Khashab, Alan H. Tieu, Alba Azola, Saowanee Ngamruengphong, Mohamad H. El Zein, Vivek Kumbhari
Pagina :746
Saowanee Ngamruengphong, Vivek Kumbhari, Alan H. Tieu, Stuart K. Amateau, Patrick I. Okolo
Pagina :747
Vivek Kumbhari, Alan H. Tieu, Saowanee Ngamruengphong, Gerard Aguila, Michael A. Schweitzer, Mouen A. Khashab, Vikesh K. Singh
Pagina :748
Vivek Kumbhari, Alan H. Tieu, Jennifer X. Cai, Patrick I. Okolo, Michael A. Schweitzer, Mouen A. Khashab
Pagina :749-750
Hirohito Mori, Hideki Kobara, Noriko Nishiyama, Shintaro Fujihara, Maki Ayaki, Yoshitaka Ikeda, Tsutomu Masaki
Pagina :750
Kenichiro Imai, Kinichi Hotta, Naomi Kakushima, Hiroyuki Ono
Pagina :751
Hideaki Ritsuno, Naoto Sakamoto, Taro Osada, Shingo P. Goto, Sumio Watanabe
Pagina :752
Joan B. Gornals, Gino Albines, Loris Trenti, Richard Mast, Ricard Frago
Pagina :753
Wen-Hung Hsu, Chien-Yu Lu, Huang-Ming Hu
Pagina :754-755
Sergey V. Kantsevoy, Marianne Bitner, Jose M. Davis, Gulara Hajiyeva, Paul J. Thuluvath, Vadim Gushchin
Pagina :756-757
Arvind J. Trindade, Arunan S. Vamadevan, Divyesh V. Sejpal
Pagina :757-758
Shih-Wei Li, Shin-Hong Shiao, Shih-Che Weng, Ting-Hsu Liu, Kua-Eyre Su, Chien-Chuan Chen
Pagina :758-760
Himanshu Verma, Kai Hammerich, Jessica Mandeville, Sebastian Flacke, Mark Sterling
Pagina :760-761
Ryo Seishima, Toshio Uraoka, Hirotoshi Hasegawa, Koji Okabayashi, Masashi Tsuruta, Yuichiro Hayashi, Yuko Kitagawa
Pagina :761-763
Sheng-Lei Yan, Shih-Feng Chen, Chien-Hua Chen, Yung-Hsiang Yeh
Pagina :763-764
Mark A. Gromski, Saeed T. Vakili, Virgilio George, Leticia Perondi Luz
Pagina :765
Gaius Longcroft-Wheaton, Pradeep Bhandari
Pagina :765-766
Michael A. Manfredi, Subhas Banerjee
Pagina :766
Tianyou Yang, Le Li, Yan Zou
EM-CONSULTE.COM è registrato presso la CNIL, dichiarazione n. 1286925.
Ai sensi della legge n. 78-17 del 6 gennaio 1978 sull'informatica, sui file e sulle libertà, Lei puo' esercitare i diritti di opposizione (art.26 della legge), di accesso (art.34 a 38 Legge), e di rettifica (art.36 della legge) per i dati che La riguardano. Lei puo' cosi chiedere che siano rettificati, compeltati, chiariti, aggiornati o cancellati i suoi dati personali inesati, incompleti, equivoci, obsoleti o la cui raccolta o di uso o di conservazione sono vietati.
Le informazioni relative ai visitatori del nostro sito, compresa la loro identità, sono confidenziali.
Il responsabile del sito si impegna sull'onore a rispettare le condizioni legali di confidenzialità applicabili in Francia e a non divulgare tali informazioni a terzi.
Tutto il contenuto di questo sito: Copyright © 2026 Elsevier, i suoi licenziatari e contributori. Tutti i diritti sono riservati. Inclusi diritti per estrazione di testo e di dati, addestramento dell’intelligenza artificiale, e tecnologie simili. Per tutto il contenuto ‘open access’ sono applicati i termini della licenza Creative Commons.