Vol 77 - N° 4 - avril 2013
P. A1-A22© Elsevier Masson SAS
Page :A2
Page :A9
Page :A14
Page :A16
Page :A18
Page :A20
Page :519-525
ASGE Technology Assessment Committee, John T. Maple, Subhas Banerjee, Bradley A. Barth, Yasser M. Bhat, David J. Desilets, Klaus T. Gottlieb, Patrick R. Pfau, Douglas K. Pleskow, Uzma D. Siddiqui, Jeffrey L. Tokar, Amy Wang, Louis-Michel Wong Kee Song, Sarah A. Rodriguez
Page :526-533
Hyoung-Chul Oh, William R. Brugge
Page :534-541
Parambir S. Dulai, Heiko Pohl, John M. Levenick, Stuart R. Gordon, Todd A. MacKenzie, Richard I. Rothstein
Page :542-550
Maria Lopez-Ceron, Frank J.C. van den Broek, Elisabeth M. Mathus-Vliegen, Karam S. Boparai, Susanne van Eeden, Paul Fockens, Evelien Dekker
Page :551-557
Brian H. Hyett, Marwan S. Abougergi, Joseph P. Charpentier, Navin L. Kumar, Suzana Brozovic, Brian L. Claggett, Anne C. Travis, John R. Saltzman
Page :558-565
Sachin Wani, Gregory A. Coté, Rajesh Keswani, Daniel Mullady, Riad Azar, Faris Murad, Steve Edmundowicz, Srinadh Komanduri, Lee McHenry, Mohammad A. Al-Haddad, Matthew Hall, Christine E. Hovis, Thomas G. Hollander, Dayna Early
Page :566-567
Alireza Sedarat, Michael L. Kochman
Page :568-577
Nabeel Azeem, James H. Tabibian, Todd H. Baron, Vwaire Orhurhu, Charles B. Rosen, Bret T. Petersen, Christopher J. Gostout, Mark D. Topazian, Michael J. Levy
Page :578-589
Mei Mei, Jingmei Ni, Dan Liu, Piaopiao Jin, Leimin Sun
Page :590-592
Pierre H. Deprez
Page :593-600
Raj J. Shah, Maximiliano Smolkin, Roy Yen, Andrew Ross, Richard A. Kozarek, Douglas A. Howell, Gennadiy Bakis, Sreenivasan S. Jonnalagadda, Abed A. Al-Lehibi, Al Hardy, Douglas R. Morgan, Amrita Sethi, Peter D. Stevens, Paul A. Akerman, Shyam J. Thakkar, Brian C. Brauer
Page :601-608
Sumeet K. Tewani, Brian G. Turner, Ram Chuttani, Douglas K. Pleskow, Mandeep S. Sawhney
Page :609-616
Sravanthi Parasa, Udayakumar Navaneethan, Arun Raghav Mahankali Sridhar, Preethi G.K. Venkatesh, Kevin Olden
Page :617-623
Thomas R. de Wijkerslooth, Esther M. Stoop, Patrick M. Bossuyt, Kristien M.A.J. Tytgat, Jan Dees, Elisabeth M.H. Mathus-Vliegen, Ernst J. Kuipers, Paul Fockens, Monique E. van Leerdam, Evelien Dekker
Page :624-630
Jean-Francois Turcotte, Dina Kao, Stephanie J. Mah, Brian Claggett, John R. Saltzman, Richard N. Fedorak, Julia J. Liu
Page :631-635
Susan G. Coe, Michael B. Wallace
Page :636
James Buxbaum, William Ross, Shou-Jiang Tang, Brian Weston, G.S. Raju, Glenn M. Eisen
Page :637-640
Constantinos P. Anastassiades, Aditi Saxena
Page :641-645
Stacy B. Menees, John J. Vargo, Camilla Bonta, Lakitia Mayo, Brian C. Jacobson
Page :646-648
Mouen A. Khashab, Payal Saxena, Ali Kord Valeshabad, Yamile Haito Chavez, Faming Zhang, Venkata Akshintala, Gerard Aguila, Haruhiro Inoue, Pankaj J. Pasricha, Horst Neuhaus, Anthony N. Kalloo
Page :649-653
Hung Cao, Smitha Rao, Shou-jiang Tang, Harry F. Tibbals, Stuart Spechler, J.-C. Chiao
Page :654-657
Alexander Meining, Armin Schneider, Daniel Roppenecker, Tim Lüth
Page :658-659
Jianqun Cai, Wei Zhu, Chaolan Lv, Zhenshu Zhang, Fachao Zhi, Bo Jiang
Page :659-661
Tadashi Inuzuka, Yoshihiro Okabe, Hiroki Nishikawa, Yukio Osaki
Page :661-662
Emanuele Rondonotti, Arnaldo Amato, Silvia Paggi, Franco Radaelli, Claudio Ballarati, Giancarlo Spinzi
Page :663
Rei Suzuki, Manoop S. Bhutani
Page :664-668
Paul Didden, Manon C.W. Spaander, Rogier de Ridder, Luuk Berk, Antonie J.P. van Tilburg, Ivonne Leeuwenburgh, Ernst J. Kuipers, Marco J. Bruno
Page :669-670
Ali A. Siddiqui, Thomas E. Kowalski, Ramalinga Kedika, Abhik Roy, David E. Loren, Eric Ellsworth, Douglas Adler, Sydney D. Finkelstein
Page :670
Tsuyoshi Hamada, Yousuke Nakai, Hiroyuki Isayama, Kazuhiko Koike
Page :670-671
Mouen A. Khashab, Michael J. Levy
Page :671-672
Luis F. Lara, Daniel C. DeMarco
Page :672-673
Wan-Jie Gu, Jing-Chen Liu
Page :673-674
Xiwei Ding, Min Chen, Shuling Huang, Song Zhang, Xiaoping Zou
Page :674-675
Kimitoshi Kato, Masahiko Sugitani, Yoshihiro Matsukawa, Hideki Sato, Mitsuhiko Moriyama, Masayoshi Soma
Page :675
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.