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Inter-Defect Septal Puncture Technique For Single Device Closure of Wide-Spaced Multi-Hole Atrial Septal Defect - 23/06/22

Doi : 10.1016/j.hlc.2022.02.009 
Yue-Kun Sun, MBBS #, Shi-Bin Sun, MD #, Li Hongxin, MD , Geoffrey Joseph Changwe, MD
 Department of Cardiovascular Surgery, Shandong Provincial Qianfoshan Hospital, Shandong University, Jinan, China 

Corresponding author at: Department of Cardiovascular Surgery, Shandong Qianfoshan Hospital, Cheeloo College of Medicine, Shandong University, Jinan, Shandong, 250012, ChinaDepartment of Cardiovascular SurgeryShandong Qianfoshan HospitalCheeloo College of MedicineShandong UniversityJinanShandong250012China

Abstract

Closure of a wide-spaced multi-hole secundum atrial septal defect (MHASD) using a single occluder is difficult to accomplish. Multiple occluder implantation has risks such as incomplete endothelialisation, device embolisation, and residual shunt. Blade or balloon septotomy enables single device occlusion; however, the aforementioned may cause a short circumferential rim with subsequent device instability. This paper describes an inter-defect septal puncture technique for single device closure of different layouts of wide-spaced MHASDs via per-atrial or percutaneous approach under exclusive transoesophageal echocardiographic guidance. This technique combined with anti-tenting puncture equally befits a small caval atrial septal defect and MHASD with a floppy aneurysmal septum.

Il testo completo di questo articolo è disponibile in PDF.

Keywords : Transseptal puncture, Device occlusion, Atrial septal defect


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Vol 31 - N° 7

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