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Elemental analysis down to the single atom with electron beams - 14/03/14

Doi : 10.1016/j.crhy.2013.12.003 
Kazu Suenaga
 Nanotube Research Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Central 5, 1-1-1 Higashi, Tsukuba 305-8565, Japan 

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Abstract

Recently the possibilities of chemical analysis by means of electron energy-loss spectroscopy (EELS) and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX) have been pushed to the single atom limit. Here we show examples for successful single-atom spectroscopy in low-dimensional materials using scanning transmission electron microscopy (STEM) together with EELS and EDX.

Il testo completo di questo articolo è disponibile in PDF.

Résumé

Au cours des années récentes, les techniques d'analyse spectroscopique de perte d'énergie (EELS) et d'émission X (EDX) ont été poussées jusqu'à l'identification d'atomes individuels. Nous présentons ici une sélection de résultats récents acquis en microscopie électronique à balayage en transmission (STEM) équipée pour les spectroscopies EELS et EDX, qui montrent des succès enregistrés sur des atomes uniques au sein de matériaux de basse dimensionnalité.

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Keywords : STEM, EELS, EDX, Single atom spectroscopy, Low-dimension materials

Mots-clés : STEM, Spectroscopie de perte d'énergie, Analyse dispersive en énergie, Spectroscopie d'atome unique, Matériaux à basse dimension


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Vol 15 - N° 2-3

P. 151-157 - febbraio 2014 Ritorno al numero
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  • Seeing and measuring in 3D with electrons
  • Sara Bals, Bart Goris, Thomas Altantzis, Hamed Heidari, Sandra Van Aert, Gustaaf Van Tendeloo
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