Vol 77 - N° 3 - mars 2013
P. A1-A24© Elsevier Masson SAS
Page :A4
Page :A10
Page :A16
Page :A18
Page :A20
Page :A24
Page :319-327
ASGE Technology Assessment Committee, Patrick R. Pfau, Douglas K. Pleskow, Subhas Banerjee, Bradley A. Barth, Yasser M. Bhat, David J. Desilets, Klaus T. Gottlieb, John T. Maple, Uzma D. Siddiqui, Jeffrey L. Tokar, Amy Wang, Louis-Michel Wong Kee Song, Sarah A. Rodriguez
Page :328-334
ASGE Standards of Practice Committee, John A. Evans, Dayna S. Early, Vinay Chandraskhara, Krishnavel V. Chathadi, Robert D. Fanelli, Deborah A. Fisher, Kimberly Q. Foley, Joo Ha Hwang, Terry L. Jue, Shabana F. Pasha, Ravi Sharaf, Amandeep K. Shergill, Jason A. Dominitz, Brooks D. Cash
Page :335-350
Charles J. Kahi, Joseph C. Anderson, Douglas K. Rex
Page :351-359
Sanjay K. Murthy, Ralf Kiesslich
Page :360-375
Berkeley N. Limketkai, Dora Lam-Himlin, Michael A. Arnold, Christina A. Arnold
Page :376-380
Albert Do, Janice Weinberg, Aarti Kakkar, Brian C. Jacobson
Page :381
Rodrigo Jover, Pedro Zapater, Eduardo Polanía, Luis Bujanda, Angel Lanas, José A. Hermo, Joaquín Cubiella, Akiko Ono, Yanira González-Méndez, Antonio Peris, María Pellisé, Agustín Seoane, Alberto Herreros-de-Tejada, Marta Ponce, José C. Marín-Gabriel, María Chaparro, Guillermo Cacho, Servando Fernández-Díez, Juan Arenas, Federico Sopeña, Luisa de-Castro, Pablo Vega-Villaamil, María Rodríguez-Soler, Fernando Carballo, Dolores Salas, Juan D. Morillas, Montserrat Andreu, Enrique Quintero, Antoni Castells, COLONPREV study investigators
Page :390-394
Neal C. Patel, Rafiul S. Islam, Qing Wu, Suryakanth R. Gurudu, Francisco C. Ramirez, Michael D. Crowell, Douglas O. Faigel
Page :395-400
Yoriaki Komeda, Noriko Suzuki, Marshall Sarah, Siwan Thomas-Gibson, Margaret Vance, Chris Fraser, Kinesh Patel, Brian P. Saunders
Page :401-407
Hammad Liaquat, Elizabeth Rohn, Douglas K. Rex
Page :408-409
Steven A. Edmundowicz
Page :410-418
Ian M. Gralnek, Osnat Ron-Tal Fisher, Jennifer L. Holub, Glenn M. Eisen
Page :419-429
Christian Stock, Peter Ihle, Andreas Sieg, Ingrid Schubert, Michael Hoffmeister, Hermann Brenner
Page :430-435
Matthew N. Thoma, Brenda G. Jimenez Cantisano, Adrian V. Hernandez, Alejandro Perez, Fernando Castro
Page :436-446
Askar Chukmaitov, Cathy J. Bradley, Bassam Dahman, Umaporn Siangphoe, Joan L. Warren, Carrie N. Klabunde
Page :447-454
Adeyinka O. Laiyemo, Chyke Doubeni, Hassan Brim, Hassan Ashktorab, Robert E. Schoen, Samir Gupta, Aline Charabaty, Elaine Lanza, Duane T. Smoot, Elizabeth Platz, Amanda J. Cross
Page :455-463
Patrick M. Lynch, Jeffrey S. Morris, William A. Ross, Miguel A. Rodriguez-Bigas, Juan Posadas, Rossa Khalaf, Diane M. Weber, Valerie O. Sepeda, Bernard Levin, Imad Shureiqi
Page :464-471
Brintha K. Enestvedt, Glenn M. Eisen, Jennifer Holub, David A. Lieberman
Page :472-479
Ian M. Gralnek, David L. Carr-Locke, Ori Segol, Zamir Halpern, Peter D. Siersema, Alan Sloyer, Jay Fenster, Blair S. Lewis, Erwin Santo, Alain Suissa, Meytal Segev
Page :480-483
Toshio Uraoka, Shinji Tanaka, Takayuki Matsumoto, Takahisa Matsuda, Shiro Oka, Tomohiko Moriyama, Reiji Higashi, Yutaka Saito
Page :484-490
Andrew J. Metz, Alan Moss, Duncan Mcleod, Kayla Tran, Craig Godfrey, Abe Chandra, Michael J. Bourke
Page :491
James Buxbaum, William Ross, Shou-Jiang Tang, Brian Weston, G.S. Raju, Glenn M. Eisen
Page :492-495
Bobby Prasad
Page :496-497
Albert J. Bredenoord, Jacques J. Bergman, Paul Fockens
Page :497-498
Carlos Noronha Ferreira, Luis Carrilho Ribeiro, José Velosa, José Ferreira, Carlos Ferreira, José Paulo Freire, Jorge Marques, António Ruivo, Henrique Bicha Castelo
Page :498-500
Jeremy Y.C. Teoh, Anthony Y.B. Teoh, Philip W.Y. Chiu, Enders K.W. Ng
Page :500-501
Anthony Y.B. Teoh, Enders K.W. Ng, Robert Hawes
Page :502-503
Nadim W. El Majzoub, Mohamad A. Eloubeidi
Page :504-507
Constantine A. Soulellis, Stephanie Carpentier, Yen-I. Chen, Carlo A. Fallone, Alan N. Barkun
Page :508-510
Harry R. Aslanian, Loren Laine
Page :511-512
Tyler Black, George Philips, Rebecca Burbridge
Page :512-513
Chalapathi Rao, Surinder Singh Rana, Anupam Lal, Mahendra Kumar, Arunanshu Behera, Divya Dahiya, Kusum Joshi, Deepak Kumar Bhasin
Page :514-515
Akifumi Ootani, Yoshihiro Hayashi, Yugo Miyagi, Hironori Tanimoto, Yuko Nakakita-Ozaki
Page :515-516
Eric Wee
Page :516-517
Keith L. Obstein, Santina Battaglia, Byron F. Smith, Jason S. Gerding, Pietro Valdastri
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.