Vol 79 - N° 5 - mai 2014
P. A1-A28© Elsevier Masson SAS
Page :A2
Page :A9
Page :A12
Page :A14
Page :A20
Page :A25
Page :699-710
ASGE Standards of Practice Committee, Jenifer R. Lightdale, Ruben Acosta, Amandeep K. Shergill, Vinay Chandrasekhara, Krishnavel Chathadi, Dayna Early, John A. Evans, Robert D. Fanelli, Deborah A. Fisher, Lisa Fonkalsrud, Joo Ha Hwang, Mouen Kashab, V. Raman Muthusamy, Shabana Pasha, John R. Saltzman, Brooks D. Cash
Page :711
Alireza Sedarat, Gregory G. Ginsberg, Nuzhat Ahmad
Page :712
Nikolas Eleftheriadis, Haruhiro Inoue, Haruo Ikeda, Manabu Onimaru, Akira Yoshida, Roberta Maselli, Grace Santi, Shin-ei Kudo
Page :713
Emmanuel C. Gorospe, Shiv Desai, Badr Al-Bawardy, Todd H. Baron, Navtej S. Buttar, Louis M. Wong Kee Song
Page :714
Mansour A. Parsi
Page :715
Takao Itoi, Kenneth F. Binmoeller
Page :716
Crispin Musumba, Rebecca Sonson, Nicholas Tutticci, Kavinderjit Nanda, Michael J. Bourke
Page :716-717
Eric Trawick, Safia Salaria, Patrick Yachimski
Page :718
Georgina Chadwick, Oliver Groene, Sheraz R. Markar, Jonathan Hoare, David Cromwell, George B. Hanna
Page :732-740
R. Sameer Islam, Jonathan A. Leighton, Shabana F. Pasha
Page :741
Riccardo Marmo, Maurizio Koch, Livio Cipolletta, Maria Antonia Bianco, Enzo Grossi, Gianluca Rotondano, PNED 1 and PNED 2 Investigators
Page :750-755
Kenneth F. Binmoeller, Janak N. Shah, Yasser M. Bhat, Steve D. Kane
Page :756-764
Kazuki Sumiyama, Hirobumi Toyoizumi, Tomohiko R. Ohya, Akira Dobashi, Shoryoku Hino, Masakuni Kobayashi, Kenichi Goda, Hiroo Imazu, Yumi Kawakita, Tomohiko Kato, Hisao Tajiri
Page :765-772
Joseph Romagnuolo, Peter B. Cotton, Valerie Durkalski, Qi Pauls, Olga Brawman-Mintzer, Douglas A. Drossman, Patrick Mauldin, Kyle Orrell, April W. Williams, Evan L. Fogel, Paul R. Tarnasky, Giuseppe Aliperti, Martin L. Freeman, Richard A. Kozarek, Priya A. Jamidar, C. Mel Wilcox, Jose Serrano, Grace H. Elta
Page :773
Nabeel Azeem, Christopher J. Gostout, Mary Knipschield, Todd H. Baron
Page :780-782
Raj J. Shah
Page :783-789
Guru Trikudanathan, Udayakumar Navaneethan, Basile Njei, John J. Vargo, Mansour A. Parsi
Page :790-797
Dae-Hyun Kim, Seon-Young Park, Chang-Hwan Park, Ho-Seok Ki, Chung-Hwan Jun, Hyun-Soo Kim, Sung-Kyu Choi, Jong-Sun Rew
Page :798
Catharine M. Walsh, Simon C. Ling, Nitin Khanna, Mary Anne Cooper, Samir C. Grover, Gary May, Thomas D. Walters, Linda Rabeneck, Richard Reznick, Heather Carnahan
Page :808-810
Walter J. Coyle
Page :811
Stacy B. Menees, H. Myra Kim, Patricia Wren, Brian J. Zikmund-Fisher, Grace H. Elta, Stephanie Foster, Sheryl Korsnes, Brittany Graustein, Philip Schoenfeld
Page :821
James Buxbaum, William Ross, Shou-Jiang Tang, Brian Weston, G.S. Raju, Glenn M. Eisen
Page :822-827
John Baillie
Page :828-832
Arne R. Schneider, Wolfgang Schepp
Page :833-834
Wen-Hung Hsu, Chao-Hung Kuo, I-Chen Wu, Chien-Yu Lu, Deng-Chyang Wu, Huang-Ming Hu
Page :834-835
Alberto Murino, Pierre Eisendrath, Daniel Blero, Mostafa Ibrahim, Horst Neuhaus, Jacques Devière
Page :835-837
Yasuyuki Tanaka, Takuto Yoshioka, Toshihiro Kusaka
Page :837-838
Kouichi Hamabe, Munetaka Nakamura, Jun Nishikawa, Tomoki Hitosugi, Youhei Nakamura, Takeshi Iida, Miyuki Kaino, Fumie Kurokawa, Kumiko Yoshida, Masahiko Onoda, Tomoe Kato, Atsunori Oga, Isao Sakaida
Page :839-844
Adam Templeton, Artur Bodnar, S. Ian Gan, Shayan Irani, Andrew Ross, Donald Low
Page :844-851
Shayan Irani, Todd H. Baron, Michael Gluck, Ian Gan, Andrew S. Ross, Richard A. Kozarek
Page :851-855
Raquel Dávila Fajardo, Selma J. Lekkerkerker, Astrid van der Horst, Eelco Lens, Jacques J. Bergman, Paul Fockens, Arjan Bel, Jeanin E. van Hooft
Page :855-864
Gianfranco Donatelli, Bertrand Marie Vergeau, Serge Derhy, Jean Loup Dumont, Thierry Tuszynski, Parag Dhumane, Bruno Meduri
Page :864-870
Kavinderjit S. Nanda, Nicholas Tutticci, Nicholas Burgess, Rebecca Sonson, Duncan McLeod, Michael J. Bourke
Page :871-872
Andres F. Carrion, Mia Hindi, Enrique Molina, Jamie S. Barkin
Page :872-873
Anastasios Koulaouzidis
Page :873-874
Irphan Gaslightwala, David L. Diehl
Page :874
Srinadh Komanduri
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.