Abbonarsi

Seeing and measuring in 3D with electrons - 14/03/14

Doi : 10.1016/j.crhy.2013.09.015 
Sara Bals , Bart Goris, Thomas Altantzis, Hamed Heidari, Sandra Van Aert, Gustaaf Van Tendeloo
 EMAT, University of Antwerp, Groenenborgerlaan 171, B-2020 Antwerp, Belgium 

Corresponding author. Tel.: +32 (0)32653284.

Benvenuto su EM|consulte, il riferimento dei professionisti della salute.
L'accesso al testo integrale di questo articolo richiede un abbonamento.

pagine 11
Iconografia 7
Video 0
Altro 0

Abstract

Modern TEM enables the investigation of nanostructures at the atomic scale. However, TEM images are only two-dimensional (2D) projections of a three-dimensional (3D) object. Electron tomography can overcome this limitation. The technique is increasingly focused towards quantitative measurements and reaching atomic resolution in 3D has been the ultimate goal for many years. Therefore, one needs to optimize the acquisition of the data, the 3D reconstruction techniques as well as the quantification methods. Here, we will review a broad range of methodologies and examples. Finally, we will provide an outlook and will describe future challenges in the field of electron tomography.

Il testo completo di questo articolo è disponibile in PDF.

Résumé

L'évolution récente des MET permet d'explorer les nanostructures à l'échelle de l'atome. Cependant, les images obtenues ne sont que des projections bidimensionnelles d'objets 3D. La tomographie électronique permet de pallier cette limitation et se concentre de plus en plus sur les mesures quantitatives. De plus, la résolution atomique en 3D représentait depuis longtemps le but ultime en tomographie. Il est donc nécessaire d'optimiser l'acquisition des données, les techniques de reconstruction 3D ainsi que les méthodes de quantification. Nous allons passer en revue différentes méthodologies et exemples. Nous discuterons ensuite des perspectives et des nouveaux défis à relever dans ce domaine.

Il testo completo di questo articolo è disponibile in PDF.

Keywords : Electron tomography, Atomic resolution, Three-dimensional reconstruction, Nanostructures

Mots-clés : Tomographie électronique, Résolution atomique, Reconstruction en trois dimensions, Nanostructures


Mappa


© 2013  Académie des sciences. Pubblicato da Elsevier Masson SAS. Tutti i diritti riservati.
Aggiungere alla mia biblioteca Togliere dalla mia biblioteca Stampare
Esportazione

    Citazioni Export

  • File

  • Contenuto

Vol 15 - N° 2-3

P. 140-150 - febbraio 2014 Ritorno al numero
Articolo precedente Articolo precedente
  • Interferometric methods for mapping static electric and magnetic fields
  • Giulio Pozzi, Marco Beleggia, Takeshi Kasama, Rafal E. Dunin-Borkowski
| Articolo seguente Articolo seguente
  • Elemental analysis down to the single atom with electron beams
  • Kazu Suenaga

Benvenuto su EM|consulte, il riferimento dei professionisti della salute.
L'accesso al testo integrale di questo articolo richiede un abbonamento.

Già abbonato a @@106933@@ rivista ?

@@150455@@ Voir plus

Il mio account


Dichiarazione CNIL

EM-CONSULTE.COM è registrato presso la CNIL, dichiarazione n. 1286925.

Ai sensi della legge n. 78-17 del 6 gennaio 1978 sull'informatica, sui file e sulle libertà, Lei puo' esercitare i diritti di opposizione (art.26 della legge), di accesso (art.34 a 38 Legge), e di rettifica (art.36 della legge) per i dati che La riguardano. Lei puo' cosi chiedere che siano rettificati, compeltati, chiariti, aggiornati o cancellati i suoi dati personali inesati, incompleti, equivoci, obsoleti o la cui raccolta o di uso o di conservazione sono vietati.
Le informazioni relative ai visitatori del nostro sito, compresa la loro identità, sono confidenziali.
Il responsabile del sito si impegna sull'onore a rispettare le condizioni legali di confidenzialità applicabili in Francia e a non divulgare tali informazioni a terzi.


Tutto il contenuto di questo sito: Copyright © 2026 Elsevier, i suoi licenziatari e contributori. Tutti i diritti sono riservati. Inclusi diritti per estrazione di testo e di dati, addestramento dell’intelligenza artificiale, e tecnologie simili. Per tutto il contenuto ‘open access’ sono applicati i termini della licenza Creative Commons.