Vol 156 - N° 5 - novembre 2013
P. A1-A14© Elsevier Masson SAS
Pagina :A3
Pagina :851-859
Marc Muraine, Julie Gueudry, Zhiguo He, Simone Piselli, Sabine Lefevre, David Toubeau
Pagina :859
Pagina :860
Yassine J. Daoud, Andrew D. Munro, Derek D. Delmonte, Sandra Stinnett, Terry Kim, Alan N. Carlson, Natalie A. Afshari
Pagina :867
Sayan Basu, Vinay Sukumara Pillai, Virender S. Sangwan
Pagina :874
Rita Mencucci, Iacopo Paladini, Erica Sarchielli, Eleonora Favuzza, Gabriella Barbara Vannelli, Mirca Marini
Pagina :885
Engin Bilge Ozgurhan, Necip Kara, Aydin Yildirim, Ercument Bozkurt, Hasim Uslu, Ahmet Demirok
Pagina :894
Jorge L. Alio, Alessandro Abbouda, Pablo Peña-Garcia
Pagina :902
Michael A. Kapamajian, Jose de la Cruz, Joelle A. Hallak, Thasarat S. Vajaranant
Pagina :907
Yugo Kimura, Masanori Hangai, Akiko Matsumoto, Tadamichi Akagi, Hanako O. Ikeda, Shinji Ohkubo, Kazuhisa Sugiyama, Aiko Iwase, Makoto Araie, Nagahisa Yoshimura
Pagina :918
Renato Lisboa, Kaweh Mansouri, Linda M. Zangwill, Robert N. Weinreb, Felipe A. Medeiros
Pagina :927
Yachna Ahuja, Son Ma Khin Pyi, Mehrdad Malihi, David O. Hodge, Arthur J. Sit
Pagina :936
Marc Töteberg-Harms, Douglas J. Rhee
Pagina :941
Yoshimi Sugiura, Fumiki Okamoto, Yoshifumi Okamoto, Takahiro Hiraoka, Tetsuro Oshika
Pagina :948
Noriaki Shimada, Yuichiro Tanaka, Takashi Tokoro, Kyoko Ohno-Matsui
Pagina :958
Violaine Caillaux, David Gaucher, Vincent Gualino, Pascale Massin, Ramin Tadayoni, Alain Gaudric
Pagina :968
Satoko Fujimoto, Yasushi Ikuno, Kohji Nishida
Pagina :974
Jae Hui Kim, Se Woong Kang, Tae-Hyup Kim, Sang Jin Kim, Jeeyun Ahn
Pagina :981
Aaron Nagiel, K. Bailey Freund, Richard F. Spaide, Inger C. Munch, Michael Larsen, David Sarraf
Pagina :989
Philipp S. Muether, Manuel M. Hermann, Katharina Dröge, Bernd Kirchhof, Sascha Fauser
Pagina :994
Seong Joon Ahn, Se Joon Woo, Ko Eun Kim, Dong Hyun Jo, Jeeyun Ahn, Kyu Hyung Park
Pagina :1002
Isao Nakata, Kenji Yamashiro, Hideo Nakanishi, Yumiko Akagi-Kurashige, Masahiro Miyake, Akitaka Tsujikawa, Fumihiko Matsuda, Nagahisa Yoshimura, Nagahama Cohort Research Group
Pagina :1010
Ronald Klein, Xiaohui Li, Jane Z. Kuo, Barbara E.K. Klein, Mary Frances Cotch, Tien Y. Wong, Kent D. Taylor, Jerome I. Rotter
Pagina :1021
Chen-Wei Pan, Ching-yu Cheng, Seang-Mei Saw, Jie Jin Wang, Tien Y. Wong
Pagina :1034
Daniel J. Salchow, Inna Marcus, Thomas J. Golembeski, Xiaoli Wang, Fangyong Li
Pagina :1040
Alvin L. Young, King S. Leung, Nicole Tsim, Mamie Hui, Vishal Jhanji
Pagina :1045-1050
Katherine A. Lee, Danielle L. Chandler, Michael X. Repka, Michele Melia, Roy W. Beck, C. Gail Summers, Kevin D. Frick, Nicole C. Foster, Raymond T. Kraker, Scott Atkinson, PEDIG ?
Pagina :1051
Hirohiko Kakizaki, Yasuhiro Takahashi, Hidetaka Miyazaki, Yasuhisa Nakamura
Pagina :1056
Linda P. Kelly, Philip S. Garza, Beau B. Bruce, Emily B. Graubart, Nancy J. Newman, Valérie Biousse
Pagina :1062
Michael K. Yoon, Frederick A. Jakobiec, Pia R. Mendoza
Pagina :1069
Minas T. Coroneo
Pagina :1069-1070
Robert S. Weinberg, Bryn B. Burkholder, Divya Srikumaran, Bryan S. Lee
Pagina :1070-1071
Janvi Shah, Lingam Vijaya, Balekudaru Shantha, Ronnie George
Pagina :1071
Darrell Wudunn, Nanfei Zhang, Patrick Tsai, Yara P. Catoira-Boyle, Joni S. Hoop, Linda S. Morgan, Louis B. Cantor
Pagina :1072.e1
Roni M. Shtein
EM-CONSULTE.COM è registrato presso la CNIL, dichiarazione n. 1286925.
Ai sensi della legge n. 78-17 del 6 gennaio 1978 sull'informatica, sui file e sulle libertà, Lei puo' esercitare i diritti di opposizione (art.26 della legge), di accesso (art.34 a 38 Legge), e di rettifica (art.36 della legge) per i dati che La riguardano. Lei puo' cosi chiedere che siano rettificati, compeltati, chiariti, aggiornati o cancellati i suoi dati personali inesati, incompleti, equivoci, obsoleti o la cui raccolta o di uso o di conservazione sono vietati.
Le informazioni relative ai visitatori del nostro sito, compresa la loro identità, sono confidenziali.
Il responsabile del sito si impegna sull'onore a rispettare le condizioni legali di confidenzialità applicabili in Francia e a non divulgare tali informazioni a terzi.
Tutto il contenuto di questo sito: Copyright © 2026 Elsevier, i suoi licenziatari e contributori. Tutti i diritti sono riservati. Inclusi diritti per estrazione di testo e di dati, addestramento dell’intelligenza artificiale, e tecnologie simili. Per tutto il contenuto ‘open access’ sono applicati i termini della licenza Creative Commons.